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光子计数成像方法分析

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TOC\o1-3\h\u15355光子计数成像方法分析 1

318721.1基于泊松分布的光子计数概率模型 1

77811.2基于盖革模式雪崩二极管的光子计数成像方法 2

1.1基于泊松分布的光子计数概率模型

光子具有波粒二象性，光与物质的相互作用是没有规则的，也可以说是随机的，对光的任何测量都会伴随随机涨落，因此光子被探测器吸收的过程也是一个随机过程。当一个随机事件以固定的平均速率随机独立出现时，那么这个事件在单位时间内出现的次数就近似服从泊松分布。GM-APD探测器在探测到一个或多于一个光子时会被触发，经雪崩倍增后完成一次光子计数。在某一次单独的探测事件中，若探测到0个光子数的概率为P，探测到一个及一个以上光子的概率为：

Pc=1?P(K=0)(

由光子探测半经典理论可知，在一次探测中探测到K个光子的概率满足负二项分布[36]：

PK=Г

其中K=t1

由式(1.1)-(1.2)得，负二项分布下，探测器响应得概率为：

Pc=1?P0

而在弱光条件下又有KM?1，所以式(

Pc=1?exp?

假设在(t1

PK=1

将Mt1,t2

Pc=1?exp?

显然式(1.6)与式(1.4)形式完全相同，即在弱光条件下，到达APD表面的微弱光子信号