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纳米材料检测工程师考试试卷及答案

一、填空题（每题1分，共10分）

1.纳米材料通常指至少在____维度上的尺寸处于1-100nm的材料。

2.透射电子显微镜（TEM）可直接观察纳米材料的____形貌。

3.X射线衍射（XRD）法中，谢乐公式用于计算纳米晶粒的____。

4.纳米材料的比表面积通常用____法测定。

5.激光粒度仪基于____散射原理分析纳米颗粒粒径分布。

6.扫描隧道显微镜（STM）可用于观察纳米材料的____结构。

7.纳米材料的分散性常用____仪表征。

8.电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）可检测纳米材料中的____成分。

9.纳米材料的热稳定性常用____分析仪测定