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相控阵超声无损检测的原理和特点概述

1.1.1相控阵超声无损检测技术概述

相控阵超声检测技术(PATPhasedArrayTesting)是一种为了得到超声聚焦

波束，将多个独立晶片按特定的顺序组成阵列探头，并且用电子技术控制独立晶

片的激励脉冲时间和聚焦声场对其检测，增加检出率及灵敏度的检测技术。该技

术还有能在不移动相控阵探头的情况下进行大范围高灵敏动态扫查。该技术之所

以能得到普遍的发展和应用，就是因为PAT有常规超声检测所没有的这一特别

优势。此外，该技术还有着可由编程来检测形状复杂的部件、较高的缺陷检出

率、能多视角成像、较快的扫描速度、电子配置、有精致且小巧灵活的探头、等

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优点O不仅在机械制造、航天航空等，甚至在国防等领域，该技术都有着

不可替代的的作用。在最新发展诸如微型机制、压电方面的复合技术、计算机等

新技术的带头，技术的完善有着前所未有的飞速发展。同时对于那些用于图谱分

析等功能软件，在计算机能力的增强下，对于相控阵超声无损检测方面的研究也

有很大推动作用。

1.1.2相控阵声束的发射与接收

相控阵的声束接收和激发过程由多个部分相辅相成，例如延时器、探头等,

延时器