CN119620369A 显微镜调节结构、光模块检测装置和光模块检测方法 （深圳市维度科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119620369A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202510163323.0

(22)申请日2025.02.14

(71)申请人深圳市维度科技股份有限公司

地址518000广东省深圳市南山区桃源街

道福光社区留仙大道3370号南山智园崇文园区2号楼603

(72)发明人周其周建仁严伟成

(74)专利代理机构北京华艺德嘉知识产权代理

有限公司16326

专利代理师李斌

(51)Int.Cl.

G02B21/24(2006.01)

G02B21/26(2006.01)

G02B6/42(2006.01)

G01N21/88(2006.01)

G01M11/02(2006.01)

G06T5/73(2024.01)

G06T5/70(2024.01)

G06T7/00(2017.01)

权利要求书2页说明书12页附图8页

(54)发明名称

显微镜调节结构、光模块检测装置和光模块

检测方法

(57)摘要

CN119620369A本发明公开一种显微镜调节结构、光模块检测装置和光模块检测方法，结构包括内框架、中框架和外框架，内框架具有沿Z轴方向贯穿的检测通孔；中框架环设于内框架外周，内框架能相对中框架沿X轴方向位