CN119644023A 一种新型检验治具及检验方法 （广东晶锐半导体有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119644023A

(43)申请公布日2025.03.18

(21)申请号202510175193.2

(22)申请日2025.02.18

(71)申请人广东晶锐半导体有限公司

地址518000广东省深圳市光明区玉塘街

道田寮社区宝山路铭锋达工业园A栋

3-4楼

(72)发明人罗建浪胡世佳伍箴勇唐龙黄梓龙夏明胡鹏飞王仁君尹雷江小龙戴俊杰

(74)专利代理机构北京华艺德嘉知识产权代理

有限公司16326

专利代理师刘娅

(51)Int.Cl.

G01R31/00(2006.01)

G01R1/04(2006.01)

权利要求书3页说明书9页附图6页

(54)发明名称

一种新型检验治具及检验方法

(57)摘要

CN119644023A本发明公开了一种新型检验治具及检验方法，包括检测平台，检测平台设置有检测工位，检测工位设置有安装缺口，安装缺口设置有顶伸机构，顶伸机构包括升降组件，升降组件的驱动端设置有旋转驱动件，旋转驱动件的驱动端设置有顶伸杆；检测工位的上方设置有热压检测机构，热压检测机构包括驱动组件，以及设置于驱动组件的驱动端的热压组件，热压组件包括热压插头，热压插头设置有加热组件，加热组件的一端设置有压力传感片；通过