SJT 12036-2025 人工智能芯片 云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告.docxVIP

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人工智能芯片云侧推理用深度学习芯片测试指标与测试方法标准立项发展报告

EnglishTitle

StandardizationDevelopmentReport:ArtificialIntelligenceChips-TestIndicatorsandTestMethodsforCloud-sideInferenceDeepLearningChips

摘要

关键词

人工智能芯片；云侧推理；深度学习芯片；测试指标；测试方法；行业标准；SJ/T12036-2025

Keywords

ArtificialIntelligenceChips;Cloud-sideInference;DeepLearningChips;TestIndicators;TestMethods;IndustryStandard;SJ/T12036-2025

正文

1.引言

人工智能（AI）作为新一轮科技革命和产业变革的核心驱动力，正在深刻改变经济社会的发展模式。人工智能芯片，特别是用于深度学习推理的专用芯片，是支撑AI应用落地的物理基础。随着大模型（如GPT、LLaMA等）和生成式AI（AIGC）技术的迅猛发展，云侧推理成为AI服务的主要形态，对芯片的算力、能效、吞吐能力和实时性提出了更高要求。

然而，在标准SJ/T12036-2025