集成电路可靠性设计与评价 课件01绪论 .pptx

集成电路可靠性设计与评价

第1章绪论

一、集成电路可靠性技术1.1、可靠性技术的发展1.2、可靠性技术的基本内容二、集成电路可靠性评价和评估2.1、基于概率统计的传统可靠性评价2.2、基于失效物理的可靠性评估1.3、可靠性技术的重要性和挑战2.3、基于可靠性仿真的可靠性评估

一、集成电路可靠性技术1.1可靠性技术的发展大致经历了4个阶段：中国国家标准GB3187-82：“产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定功能的能力”，相应地，产品丧失规定的功能则被定义为“失效”，产品在失效前的工作（或贮存）时间称为“寿命”。第一阶段（20世纪30～40年代）：萌芽第二阶段（20世纪50年代）：兴起第三阶