IEC TS 62607-3-3：2020 纳米制造.关键控制特性.第3-3部分发光纳米材料.用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告.docxVIP

纳米制造关键控制特性第3-3部分：发光纳米材料——用时间相关单光子计数法（TCSPC）测定半导体量子点的荧光寿命标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Nanomanufacturing—KeyControlCharacteristics—Part3-3:LuminescentNanomaterials—DeterminationofFluorescenceLifetimeofSemiconductorQuantumDotsUsingTimeCorrelatedSinglePhotonCounting(TCSPC)

摘要

半导体量子点作为一类具有独特尺寸依赖光学性质的发光纳米材料，在显示技术、生物成像、光伏器件和量子信息等领域展现出广阔的应用前景。荧光寿命是表征量子点发光性能的核心关键控制特性之一，其精确测定对于产品质量控制、批次一致性和产业化应用至关重要。然而，在IECTS62607-3-3:2020发布之前，国际上缺乏统一的量子点荧光寿命测量标准方法，不同实验室采用各异的技术路线和数据处理方式，导致测量结果缺乏可比性，严重制约了纳米制造产业的规范化发展。本标准由国际电工委员会（IEC）于2020年9月正式发布，归口于IEC/TC113纳米