自动检测技术-抗干扰技术.pptVIP

干扰在测试系统中是无用信号，使测量结果偏离准确值，严重时甚至使测量系统不能正常工作。因此在自动检测装置的设计、制造、安装和使用中必须充分注意抗干扰问题。 本章主要讲授干扰源的种类、干扰形式、传递途径等，从而才能针对性采取有效措施消除干扰。 影响测量装置或传输环节正常工作和测试结果的各种因素的总和，称为干扰（噪声）。 消除或削弱各种干扰影响的全部技术措施，统称为抗干扰技术或称为防护。 一、干扰的来源 （一）干扰的类型 1. 电和磁的干扰 用电设备产生火花放电；无线电台、雷电等也会发射出功率强大的电磁波。 电和磁可以通过电路和磁路对测量仪表产生干扰作用，电场和磁场的变化也在测量装置的有关电路或导线中感应出干扰电压，从而影响测量仪表的正常工作。 X光机产生大功率 高频干扰 雷达会产生大功率高频干扰 电吹风机产生的电磁波干扰以两种途径到达电视机：一是通过共用的电源插座，二是以空间电磁场传输的方式由电视机的天线接收。应设法切断这些干扰途径。 机械干扰是指机械振动或冲击使电子检测装置中的元件发生振动，改变了系统的电气参数，造成可逆或不可逆的影响。对机械干扰，可选用专用减振弹簧- 橡胶垫脚或吸振橡胶海绵垫来降低系统的谐振频率，吸收振动的能量，从而减小系统的振幅。 主要体现在两个方面： （1）各种电气元件都有一定的温度系数，温度升高，系统参数会之改变，引起误差。 （2）接触热电动势 由于电气元件的引脚多是不同金属构成，当它们相互连接组成电路时，如果各点温度不均匀就不可避免地产生热电动势，它叠加在有用信号上影响了仪表或装置的正常工作。 4.光的干扰 在检测仪表中广泛使用着各种半导体元件，但半导体元件在光的作用下会改变其导电性能，产生电势与引起阻值变化，从而影响检测仪表的正常工作。因此，半导体元器件应封装在不透光的壳体内；对于具有光敏作用的元件，尤其应注意光的屏蔽问题。 5.温度干扰 温度过高会引起绝缘体电阻下降，漏电流增加；电介质的介电系数增加，电容量增加；吸潮后骨架膨胀使线圈阻值变化增加，电感器变化；应变片粘贴后，胶质变软，精度下降等。通常采取的措施是避免将仪器放在潮湿处，仪器装置定时通电加热去潮，电子器件和印刷电路浸漆或用环氧树脂封灌等。 6.化学干扰 酸、碱、盐等化学物品以及其他腐蚀性气体，除了具有化学腐蚀性作用将会损坏仪器设备和元器件外，又能与金属导体产生化学电动势，从而影响仪器设备的正常工作。因此，必须根据使用环境对仪器设备进行必要的防腐措施，将关键的元器件密封并保持仪器设备清洁干净。 7.射线辐射干扰 核辐射能产生很强的电磁波，射线会使气体电离，使金属逸出电子，从而影响到电测装置的正常工作。射线辐射的防护是一专门的技术，主要用于原子能工业。 1.放电干扰 （1）天体和天电干扰 天电干扰是由雷电、大气的电离作用、火山爆发及地震等自然现象所产生的电磁波和空间电位变化所引起的干扰。 （2）电晕放电干扰 电晕放电干扰主要发生在超高压大功率输电线路和变压器、大功率互感器、高电压输变电等设备上。电晕放电具有间歇性，并产生脉冲电流。 （3）火花放电干扰 如电动的电刷和整流子间的周期性瞬间放电、电焊、电火花、加工机床、电气开关设备中的开关通断、电气机车和电车导电线与电刷间的放电等。 （4）辉光、弧光放电干扰 通常放电管具有负阻抗特性，当和外电路连接时容易引起高频振荡。如大量使用荧光灯、霓虹灯等。 （1）射频干扰 电视、广播、雷达及无线电收发机等对邻近电子设备造成干扰。 （2）工频干扰 （3）感应干扰 （三）信噪比和干扰迭加 1.信噪比 干扰对测量的影响必然反映到测量结果中，它与有用信号交连在一起。衡量干扰对有用信号的影响用信噪比（S/N）表示 S/N=10lg（ PS / PN ）=20lg（ US / UN ）（dB） （7-1） 式中 PS——有用信号功率； PN——干扰信号功率； US——有用信号电压的有效值； UN——干扰信号电压的有效值； 信噪比越大，干扰的影响越小。 在扩音机输入端测得：话筒输出的做报告者声音的平均电压为50mV，50Hz干扰“嗡嗡”声的电压为0.5mV，求信噪比。 解: S/N=20lg（50/0.5） dB =40 dB 又问：