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维普资讯 第 17卷 第 12期 计算机辅助设计与图形学学报 Vo1．17．No．12 2005年 12月 JOURNALOFCOMPUTER—AIDEDDESIGN COMPUTER GRAPHICS Dec．，2005 应用向量划分的低功耗确定性 BIST方法 李 吉 韩银和 李晓维 (中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 北京 100080) (中国科学院研究生 院 北京 100039) (1eejil212@ict．ae．en) 摘 要 提出一种能够与LFSR重播种技术结合的确定性 向量生成方法 ，该方法利用扫描向量中的切片重叠来同时 减少确定位数 目和跳变数 目，可大大降低测试功耗和测试存储．在硬件结构中，用一个译码器来生成控制信号．实验 结果表 明，对于 ISCAS89基准 电路 ，采用文 中方法能够减少 80％左右 的跳变 ，而只需要原始 Mintest测试集 25％左 右的测试数据存储． 关键词 确定性 BIST；LFSR重播种 ；低功耗 ；测试 向量划分 中图法分类号 TP391．76 DeterministicandLOW PowerBIST BasedonScan PatternsPartition Liji，) HanYinhe，) LiXiaowei) (AdvancedTestTechnologyLaboratory，InstituteofComputingTechnology，ChineseAcademyofSciences，BeOing 100080) (GraduateUniversityofChineseAcademyofSciences，Beijing 100039) Abstract VariousLFSR reseedingmethodshavebeen proposedtoimprovefaultcoveragein traditional pseudo—random BIST andatthesametimeyield good testdatacompression．Butadrawback ofthese methodsisthattheunspecifiedbitsarefilledwith random valuesresulting in agreatdealoftransitions duringscan—intherebycausinghighpowerdissipation．Inthispaper，wepresentanew deterministicpattern generationstructurethatcanbeusedinconjunctionwithLFSR reseedingscheme．Theproposedscheme utilizesscan slicesoverlapping oftestpatternstoreducethenumberofspecifiedbitsand thenumberof transitionsatthesametime．Asaresult，theschemecansignificantlyreducetestpowerandevenfurther reduceteststorage．A decoderisusedto generatecontrolsignals．Experimentalresultsindicatethatthe proposedmethodsignificantlyreducestheswitchingactivityby80％ andonlyneedsarelativelysmalltest datastorage(25％ oforiginalMintesttestsets)． Keywords deterministicBIST；LFSR reseeding；low power；scanpatternspartition 设备 的测试方法越来越不能满足测试 的需要 ，而 内 0 引