一种利用电光效应测量微小转角的新方法3.pdfVIP

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2017-09-15 发布于重庆
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一种利用电光效应测量微小转角的新方法3.pdf

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第 35 卷第 1 期光　子　学　报 Vol . 35 No . 1 2006 年 1 月　　　　　　　　　　　　 J anuary 2006 A C TA P HO TON ICA SIN ICA 一种利用电光效应测量微小转角的新方法黄　研　佘卫龙 ( 中山大学光电材料与技术国家重点实验室和中山大学物理系 ,广州 510275) 摘　要　利用线性电光效应发展出一种新的、高准确度的微小转角测量法根据 W . L . She 等人 ( ) 提出的线性电光效应耦合波理论 ,求得出射光强与入射光强比值即出射率对入射光方向的依赖曲线 ,利用该曲线 ,通过测量出射率可以确定入射光的方向并根据此原理 ,设计了一套简单的装置 ,该装置可以测量出物体微小转角的变化量 , 同时测量范围及准确度都可通过外加电场和入射光波长加以调节对此微小转角测量法作了理论分析 ,在 LiN bO3 器件上 ,得到测量范围大于 3′,准确度为 3 . 5 ″的设计结果关键词　电光效应 ;微小转角测量 ;耦合波理论中图分类号　　O734 + . 1 　　　　文献标识码　　A ) 外加电场方向平行调制 ,这给器件设计和应用带来 0 　引言诸多限制 200 1 年 , She 等人提出了一种分析电光光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高 [7 ] 效应的全新电磁理论方法它最大的特点是在任 [ 1 ] 灵敏度的特点而倍受重视随着现代自动控制系意选择入射光及外加电场方向的情况下均可较容易统、惯性导航系统、精密零件制造业的发展 ,对角度地求得出射光强与入射光强的比值 ,也即出射率的测量的准确度又提出了更高的要求 ,例如高准确度值 ,这可很方便地分析入射光方向的变化对出射率的控制系统需要测量误差小于几个角秒的角位移测的影响本文通过考察这一性质发展出一种利用电量结果传统的光学小角度测量方法通常基于干光效应测量微小角位移的方法 [2 ] [3 ] 涉或者自动准直 ,但一般测量结构复杂 ,装置较