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第 17卷第6期 功能材料与器件学报 Vo1.17.No.6
2011年 l2月 JOURNALOFFUNCTIONALMATERIALSANDDEVICES Dec..2011
文章编号 :1007—4252(2011)06—0596—04
Pyrex7740玻璃通孔湿法腐蚀技术研究
张锦文 ,杨化冰 ,蒋巍 ,王龙
(1.北京大学微 电子学研究院,微米/纳米加工技术国家级重点实验室,北京,100871;
2.北京大学软件与微 电子学院,北京,102600)
摘要:本文研究报道了Pyrex7740玻璃湿法腐蚀通孔技术。将四寸硅玻璃键合圆片的玻璃衬底减
薄,并在玻璃上分别制备PECVDSiC、W/Au和PECVD多晶硅三种不同掩膜及其开 13,最终利用
40%HF腐蚀实现玻璃通孔。整个工艺过程与IC工艺兼容,并可进行圆片级批量加工。观察并研
究纵向和横向腐蚀过程和通孔形貌,对比三种不同腐蚀掩膜掩蔽效果。本文研究结果为圆片级密
封封装及其它MEMS器件奠定了基础。
关键词:Pyrex7740玻璃;湿法腐蚀 ;深宽比;腐蚀掩膜
中图分类号 :TN305.7 文献标识码 :A
FabricationofVia·holeonPyrex7740Glass
W aferbyHFW et—etchingTechnique
ZHANGJin—wen ,YANGHua—bing ,JIANGWei,WANG Long’
(11.NationalKeyLaboratoryofNano/MicroFabricationTechnology,InstituteofMicroelectronics,
PekingUniversity,Beijing100871,China;
2.SchoolofSoftwareandMicroelectronics,PekingUniversity, Beijing102600,China)
Abstract:Thispaperrepotsfabrication ofvia—holeon Pyrex7740 glasswaferbywet—etching tech—
nique.Firstlysiliconandglasswaferswereanodicallybondedtogetherandglasswafrwasthinnedtoa—
bout1007m.Thenthreekindsofmaterials(suchasPECVDSiCandPoly—SiandW/Au1werepre-
paredandpatternedashard—maskrespectively
. Lastlyvia—holeswererealizedby40% HFwet—etch—
ingonglasswafer.Thisprocessisvery simple,low priceand IC compatible
. Theverticaland lateral
etchingprocesseswerestudiedandprofileofthevia—holewasobserved
. Themaskingimpactofthree
kindsofhard
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