新型全电介质平板结构负折射性能的模拟分析.pdfVIP

第 40卷 第 6期 河南 大学学报 (自然科学版 ) Vo1．40 NO．6 2O1O年 11月 Journa1ofHenanUniversity (Natura1Science) NOV．2010 新型全 电介质平板结构负折射性能的模拟分析 刘志峰 ，袁 斌 ，丁 佩 ，胡伟琴。，蔡根 旺 ，李 兵 ，梁二军 (1．郑州大学 物理工程学院 材料物理教育部重点实验室 ，郑州 450052； 2．郑州航空工业管理学院 数理系 ，郑州 450015；3．东华大学 应用物理系，上海 201620) 摘 要 ：和j用全 电介质材料 ，设计 了一种新型的高介 电质平板一普通介 电质一高介 电质平板结构．该平板结构 中入 射 电磁波激发的位移 电流取代金属材质左手材料 中的传导 电流 ，在特定的激发模式下可以产生负折射现象．利用 提取 的有效介质参数和楔形棱镜模拟证实 了这种全 电介质结构 的左手性能 ，并研究 了高介 电质平板尺寸变化对负 折射率通带 的影 响．用具有高介电系数的介电质材料构筑左手材料可 以克服传统 的基于金属基元 的左手材料在红 外和太赫兹波段面f临的结构复杂和损耗 问题 ，为高频低损 电磁超介质 的开发提供一种新 的结构设计思路． 关键词 ：电介质 ；左手材料 ；负折射 ；共振 中图分类号 ：0441；TB39 文献标志码 ：A 文章编号 ：1003—4978(2010)06—0575—05 NumericalSimulation ofNegativeRefractivePropertyin NovelAII—DielectricPlateStructure IIU Zhifeng ，YUAN Bin ，DING Pei，HU W ei—qin。， CAIGen—wang，LIBing，IIANG Er—jun f1．SchoolofPhysicalScience EngineeringandKeyLaboratoryof MaterialsPhysicsofMinistryofEducationofChina，ZhengzhouUniversity，Zhengzhou450052，China 2．DepartmentofMathematics Physics．ZhengzhouInstituteofAeronauticalIndustryManagement． Zhengzhou450015，China；3．DepartmentofAppliedphysics，DonghuaUniversity，Shanghai201620，China) Abstract：A novel “highdielectricgeneraldielectrichigh dielectric’’platestructureisdesigned by usingdielectric materials．Foralldielectricstructures，thedisplacementcurrentinducedbytheincidentelectromagneticwavecan replacetheconductioncurrentinmetalstructureandexcitespecificresonancemodetOresultinnegativeindexof refraction．Theextractedeffectivemedium parametersandthesimulationofwedge—shaped prism confirm theleft— handproperty in alldielectric structures Thedependence ofleft—handed transmission band on thegeometric