基于CPLD与单片机的光栅位移测量系统的设计.pdfVIP

电 子 测 量 技 术 第 33卷 第 11期 ELECTRONIC M EASUREMENT TECHN0L0GY 2010年 11月 基于 CPLD与单片机 的 光栅位移测量系统的设计 胡 林 (南京理工大学机械工程学院 南京 210094) 摘 要 ：提出一种基于 CPLD和单片机的光栅位移测量系统 的设计 ，采用 CPLD对光栅尺输 出信号进行处理 ，单片机 读 CPLD处理后 的数据并在实时显示 。硬件部分 以AT89C52为控制核心，以CPLD芯片EPM7128SLC84—15实现光 栅信号的细分、辨 向和计数等。单片机软件部分主要包括 3个部分 ：一是单片机通过 LED显示接收到的数据 ；二是断 电保持模块 ；三是数据通信模块 ，通过 RS232串口与上位机通信 。结果证 明所设计 的光栅位移测量系统能够满足高 速采样与存储的要求，可以用于实际的光栅位移的测量。 关键词 ：光栅尺 ；CPLD；单片机 ；位移测量 中图分类号 ：TP302．1 文献标识码 ：A Design ofgratingdisplacementmeasuresystem basedon CPLD andmicrochip H uLi“ (SchoolofMechanicalEngineering，NJUST，Nanjing2i0094) Abstract：A designofgratingdisplacementmeasuresystem basedOilCPLD andmicrochip，isusedforprocessingthe outputsignalofthegratingonCPLD 。ThemicrochipreadthedataafterCPLD processinganddisplay itattherea1 time．Thehardwareofthesystem ismadeupofAT89C52asthemainprocessor，theCPLD chipEPM 7128SLC84—15is usedtoprocessthesigna1．Thesoftwareofthesystem hasthreeportions：thefirstportionisthemicrochipdisplaythe databyLED ；thesecondisthemoduleofthepoweroff；thethirdisthedatacommunicationmodule，byusingRS232． Itisdemonstratedbytheresultsthatthesystem canmeettherequirementsofhigh—speedsamplingandstorageandcan beusedforrealgrating displacementmeasure． Keywords：grating；CPLD ；microchip；displacementmeasure 0 引 言 1 系统方案分析 图 1为光栅位移测量系统 的组成方框 图。主要 由光 在当今数控设备 中，一般使用光栅传感器作为长度 、 角度检测元件。它具有性能稳定 、可靠性好、测量精度高、 栅尺、信号调理电路、CPLD 内部信号采集 电路、信号处理 电路、主控制器、数据存储 电路、数据显示 电路 以及通信 电 测量范围大、使用方便、价格适中等优点 ]。