沉积温度对Gd掺杂CeO2电解质薄膜生长及电学特性的影响.pdfVIP

沉积温度对Gd掺杂CeO2电解质薄膜生长及电学特性的影响.pdf

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第23卷第5期 无机材料学报 V01.23.NO.5 of Journal Materials Sep.,2008 2008年9月 Inorganic 文章编号:1000—324X(2008)05—0912—05 沉积温度对Gd掺杂Ce02电解质薄膜生长及电学特性的影响 马小叶,姜雪宁,孟宪芹,庞胜利,孟 昕,张庆瑜 (大连理工大学三束材料改性国家重点实验室,大连n6024) 摘要:采用反应射频磁控溅射技术。在非晶石英衬底上不同温度下制备了纳米多晶Gd掺杂CeO。(简称GDC) 氧离子导体电解质薄膜,采用x射线衍射仪、原子力显微镜对薄膜物相、晶粒大小、生长形貌进行了表征,利 300—400 用交流阻抗谱仪测试了GDC薄膜的电学性能.结果表明,GDC薄膜生长取向随沉积温度而变化: 。C时为强(111)织构生长,而500—600。C时薄膜趋于无规则牛长;随着沉积温度的升高,薄膜的生长形貌由 同一取向的大棱形生长岛转变为密集球形小生长岛;GDC多晶薄膜的电导活化能约为1.3eV,接近了:晶界电 导活化能值,说明GDC交流阻抗主要源于晶界的贡献;晶界空间电荷效应导致GDC薄膜电导率随晶粒尺寸 而变化,晶粒尺寸越小,电导率越大. 关 键 词: Gd掺杂Ce02电解质薄膜;反应磁控溅射;薄膜生长;电学特性 中图分类号:0484文献标识码t A Influenceof onGrowthandElectrical of DepositionTemperature Properties Ceria Films Gd—dopedElectrolyte MA Xiao-Ye,JIANGXue—Ning,MENGXian—Qin,PANGSheng-Li,MengXin,ZhangQing—Yu ofMaterialsModification andElectron ofTech— (State Laser,Ion Beam,DalianUniversity KeyLaboratory by 1 nology,Dalian 16024,China) were Abstract: conductor thinfilms Gd—dopedCe02(GDC)ionelectrolyte syn- Nanocrystalline thesizedreactive on substratesatdifferent by sputteringamorphousquartz temperatures. magnetron Thethinfilmswerecharacterized force and current byX—Raydiffraction,atomicmicroscopealternating showt

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