基于动态全息光栅转换技术的压电陶瓷特性测量.pdfVIP

第 29卷 第 4期 物 理 实 验 Vo1．29 No．4 2009年 4月 PHYSICS EXPERIMENTATIoN Apr．．2009 基于动态全息光栅转换技术的压电陶瓷特性测量 陈云鹏，胡 易，陈黎暄，范雪兰，赵红娥 ，成正维 (北京交通大学 理学院 物理系，北京 100044) 摘 要 ：观察了光折变 LiNbOs晶体 中二波耦合动态全息光栅的衍射现象，并利用光栅转换技术实现压 电陶瓷的振 动频率及快变相位 的非接触测量．实验结果表 明，输出光强的变化频率与压 电陶瓷的振动频率相等，驱动 电压与快变相 位幅值呈线性关系． 关键词 ：光栅转换技术 ；光折变效应 ；LiNbO。晶体 ；压 电陶瓷 中图分类号 ：0437；0734．1 文献标识码 ：A 文章编号 ：1005—4642(2009)04—0006—05 genlnikl】给出，但是他只是考虑 固定、均匀分布 1 引 言 的体相位栅的情况．近些年来 ，一些研究 集中 用传统的全息记录技术可以实现物质结构 中 在使用光栅转换技术来测量 ，已经得到了一些 静态形变的测量．如果采用光折变记录介质，则 较理想 的结果．还有一些实验 。观察到在 1束 不需要显影过程 ，全息图具有可擦除性 ，晶体可重 入射光上加载快变 的相位信息，则输出光强会呈 复使用．利用光折变晶体的快速响应特性甚至可 现与相位变化相同的频率． 以实现结构中形变 的实时测量． 光栅传递技术 中一种有效的方法是，由2束 光折变效应是光致折射率变化 的简称，它是 相干光在晶体中写入全息光栅 ，在光栅完全写入 电光材料在空间非均匀相干光辐照下由光强的空 后，快速调制其中 1束光的相位，使调制速度远大 间分布引起材料中折射率随空间位置变化的一种 于晶体的响应时间．这时晶体中的光栅可认为是 非线性光学现象． 稳定的，而2束输 出光 的光强 中包含空间相位移 二波耦合过程在光折变的理论和应用研究中 的大小及其频率的信息． 占有重要地位．2束相干光在 晶体 中相遇 ，其干 根据上述方法 ，设计了实验来测量压 电陶瓷 涉条纹在晶体中通过光折变效应写入体相位全息 的周期性微振动的频率和由振动引起的相位移． 光栅 (即折射率光栅)．两写入光束又被 自写入的 全息光栅衍射，其结果相当于一般全息光栅 的读 2 实验原理 出．因此，光折变 晶体 内全息栅 的写入和读 出是 原理简图如 图 1所示．激光由分束器 BS分 同时进行的，被称为 自衍射过程．在 自衍射过程 为 2束，透射光经与压电陶瓷PZT相连 的反射镜 中，2束写入光的光强和相位分布都会随着传播 反射后与透射光在 晶体中相交．由光折变效应 ， 距离而发生变化 ，分别称为能量和相位耦合，而这 形成动态全息光栅．晶体中参考光和信号光之间 些变化又会影响后面光栅 的写入，因此光折变晶 发生能量转移 ，其光强可以写为_l1 体中的体相位栅是动态的全息光栅． ， 、 J0