继电器动触头完全氧化工艺试验初探.pdfVIP

第 1期 机 电 元 件 V01．29No．1 2009年 3月 ELECTRoMECHANICAL C0 oNENTS MaL2o09 继 电器动触头完全氧化工艺试验初探 赵 莉 (西安铁路信号工厂，陕西 西安 710048) 摘要：基于银镉触头材料通过完全 内氧化后能有效地降低继电器的接触电阻的机理，通过试验及分析对继 电器动触头完全内氧化的工艺参数进行 了确定。 关键词：继电器；动触头；完全 内氧化；过氧化；AgCdO(12) 中图分类号：TM58 文献标识码：A 文章编号：1000—6133(2009)ol一0039—03 部变成AgCdO(12)材料，触头电阻率就小了，在外界 1 引 言 因素完全相同的情况下，完全氧化触头的接触电阻自 近年来，部分使用现场反映我厂生产的安全型 然也就比未氧化透的小很多。 继电器接触 电阻过大，继电器接点不能可靠地工作， 2．2 内氧化工艺参数对触头质量的影响 严重影响了铁路行车安全。因此，分析继 电器接触 银镉材料动触头的内氧化工艺参数 (氧化温 电阻增大的原因及提出相应的解决措施就显得尤为 度、氧化时间和通氧压力)是影响触头质量的决定 重要。 性因素。只有选择合适的工艺参数才能得到各项性 能合格的动触头。触头 内氧化后晶粒大小、CdO颗 2 影响继电器接触 电阻的内因 粒的大小和分布是否均匀，是否产生了过氧化等是 2．1 银镉触头材料完全 内氧化(氧化透)的作用 影响触头质量的关键指标。特别是不能产生过氧 安全型继电器多采用传统的银或银镉合金触头。 化，因为过氧化会造成晶粒粗大，CdO颗粒粗大，并 影响继电器接触 电阻的因素很多，我们做了大量试 向晶界富集，会造成晶界弱化，使触头变脆，触头工 验、分析，取得了一定的效果，但大多是解决触头接触 作时容易断裂，当然这是不允许的。为此必须找出 电阻大的外因。解决触头接触电阻大的问题还应该 合适的工艺参数，使得既能保证触头全部氧化透，又 解决内因，即解决触头材料本身电阻率高的问题。增 不会使触头产生过氧化 。 加触头内氧化深度，使之全部氧化透的目的就在于减 3 继电器动触头完全内氧化工艺参数 小触头材料本身的电阻率。我厂生产的安全型继电 的确定 器动触头内氧化的深度原要求控制在触头厚度的1／3 为了确定合适的工艺参数，我们做了六组试验， (触头厚度0．5mm，氧化层深度即控制在0．17mm左 在送氧压力为0．2MPa一0．4MPa下分别以620cI=／ 右)。因为AgCd(12)的电阻率是4．44×10 Q ·nl， 1．5h、620cC／3h、620℃ ／4．5h、710℃ ／1．5h、710 而AgCdO(12)的电阻率是2．3×10 n ·m，前者几 o(2／3h、710℃／4．5h的工艺参数进行内氧化试验， 乎是后者的两倍，若触头全氧化透了，也就是触头全 然后用放大镜观察氧化深度，结果如表 1。 收稿 日期：2009—02—10 机 电 元 件