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介质层厚度无序对Bragg微腔模式的影响.pdf
第 38卷第 3期 光 子 学 报 V01．38No．3
2009年 3月 ACTA PHOTONICA SINICA March2009
EffectsofDisorderon M odeofPhotonicCrystalBraggCavity
ZHENGGai—ge，SHILin—xing，WANGHai-jiao，JIANG Li—yong，LIXiang—yin
(SchoolofSciences，NanjingUniversityofScienceandTechnology，Na ing210094，China)
Abstract：Basedon eigen—mode expansionmethod (EM E) andperfectlymatched layer (PM L)
absorbingboundarycondition，thepropertiesofthemodeofplanarphotoniccrystalBraggcavity，
whichwascomposed ofTiO2and SiO2bi—layers，were investigated． The study of jocalization
behaviorinarandomlylayeredmedium wasextendedfrom normaltoobliqueincidence，andboth
TE andTM modeswereconsidered．Theeffectsofdisorderandincidentangleonthemodeand
thelocalizationlengthofthecavityarestudiedindetail．Thelocalizationlengthwasfoundtobe
verysmallin gapsandmuch largerin edge regions．The transm ission decreasesin edgeswhile
increasesingapsasthedisorderingdegreeincreases．Theresultsshow thatwhenlightincidents
upon thesystem andifthedisorderingdegreeissmall，thelocalizationlengthoftheedgeislager
thantheonein thegap，and theirrelationship with disordering degreeisdifferent．W hen the
disorderingdegreeincreases，localization length isaffected notonlyby disordering degreeand
photonicbandgap，butalsothemateria1．Moreover，thelocalizationlengthcan bechangedwith
periodandincidentangle，anditsbehaviorsareverydifferentforTE andTM modes．
Keywords：Braggmicro—cavity；Eigen—modeexpansionmethod；Perfectlymatchedlayerabsorbing
boundarycondition；Random thickness
CLCN ：O411．3 DocumentCode：A ArticleID ：1O044213(2009)03—587—5
0 Introducti0n necessary to localize light (stop light
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