浅析发光二极管失效成因和使用寿命影响因素.pdfVIP

!! ：业 ScienceandTechnologyInnovationHerald 工 业 技 术 浅析发光=极管失效成因和使用寿命影响因素 赵晓慧 (辽宁营口职业技术学院电气电子系 115000) 摘 要：该文对发光型二极管的基本原理进行阐述，并在此基础上分析了影响发光型二极管寿命和失效的相关因素，建立了分析发光二极管的 数学模型，通过实验实测数据，探索了其失效机理。 关键词：功率型发光二极管 失效 寿命 中图分类号：TM6 文献标识码：A 文章编号：l674—098x(20l4)01(a)一0086—01 1影响LED寿命及失效的因素分析 反应机制类似 ，用反应速率描述器件性能 t = BI 1．1LED发光基本原理 衰减的过程。反应速率论有两大经典模型： In 1 ／ LED采用电场发光 ，半导体 晶片的P型 Arrhenius模型；~Eyring模型。 B = —— e 半导体里空穴为多数载流子，N型半导体里 (1)Arrhenius模型 电子为多数载 流子，两种导体连接 形成PN Arrhenius于19世纪提 出了此模型，其 LED寿命测试实验可以分别以温度和 结 。电流通过晶片，电子会移 向P型半导体 认为化学反应速率与激活能和温度有关 。 电流作为影响变量进行。仅考虑温度时，可 和空穴复合，空穴会移向N型半导体与电子 其模型公式 如下： 以指定电流 ，在不同温度下进行实验 ，达时 复合，然后以光子 的形式 向外发送能量，将 E ， 可以采用Arrhenius模型对实验数据进行 多余 的能量转化为光能 ，这就是LED发光 R(r)=Ae in(“) 曲线拟合求出E和— ，这样其他温度 的基本原理。 式中，A为常数，E为激活能，k为波兹 爿 1．2影响LED寿命的因素 曼常数，T为热力学温度 ，R(T)为温度T时 作用下 的寿命就可以得到 ；类似 ，仅考虑 电 从LED发光的基本原理看，在理想条件 的反应速率。 流时，可以指定温度，在不 同电流下进行实 下LED不存在传统光源灯具的老化和烧 断 验 ，采用简化 的Eyring模型对实验数据进 从模型中可以看出，Arrhenius模型仅 现象，因此从理论上其寿命是很长的，但其忽 行拟合得到B和X，然后得到在 其他 电流作 考虑了温度对反应速率 的影响，并没有考虑 略了一些边界条件。实际上现有电子工业的制 用下的寿命。 其他应力对速率的影响。 造水平和工艺不可能达到所谓的理想条件， 故影,NLED寿命的因素主要在电子工业技术 (2)Eyring模型 3实验结果及分析 和工艺的瓶颈上，主要有以下几个方面： Eyring模 型在考虑了温度应力之外， 选取某商用功率型LED作为实验对 (1)管芯质量的高低