浅谈仪器噪声对光谱测量精确的影响.pdfVIP

科 技 创 新 2012年8月(下)I科技创新与应用 浅谈仪器噪声对光谱测量精确的影响 李惠玲 (江西省地质局九一二大队，江西 鹰潭 335000) 摘 要：光谱测量在光谱分析，特别是定量分析中用途越来越广泛，多年来在光谱测量过程中都无法避免仪器噪声，最终会影响 光谱分析结果。文章主要是从吸光公式推导仪器噪声对光谱测量的影响，为以后光谱测量中仪器噪声的减小和控制奠定基础。 关键词：光谱分析；仪器噪声；精确 1光谱测量中的仪器噪声对光谱的影响 所 以 1．1仪器噪声的产生 D(A~)=2(1oge)P．(f) 62[P(f)+62] 通常，光谱测量过程是检测器将光信号转换为电信号 ，再通过 2(1oge)[Pm 6 (10) 电路处理，得到测量光谱 在“整个光路传输过程中，各原子发光与吸 由于背景(或参比)光谱与物质光谱测量是独立的，所以实测吸 光都存在一定的随机性，电路中电子的热运动也存在随机性”因此， 光度的方差为 光谱测量所得到的原始信号中含有一部分仪器噪声，通常该随机噪 D[Am(f)I=D[A (f)J+D[Aml(D] 声服从零均值正态分布 “假设在频率f处信号的功率为P(0，测量信 = 2(1oge)262[po(f)+[P-∞ 】 (11) 号中的仪器噪声功率为6，则实测信号的功率谱Pm(0为6[1 显然，吸光度中噪声功率不只与测量过程中噪声功率有关，还 Pm(f)=Is(O+v(DI 与理论光谱有关。 = fs(f)I+v(Oi+2Re[s(f)v(f)] 1．5实测吸光度分析 = P({)+g (1) 图1为Varianl0OOFT—IR红外光谱仪用压片法连续 5次测量 式中，s(f)为频率 f处的理论信号，v(0为频率处f处的噪声，Re 硫酸亚铁钱(分析纯)样品得到红外谱图的重叠图：图2为Tu一18 (·)为取部实数函数，g为随机噪声引起的误差，其值为Is(01z+v(OIz+ 1O型紫外分光光度仪 5次连续测量同一KCr20：溶液紫外光谱图 2Re[s(0v(0] 的重叠图。 1．2吸光度分析 通常光谱测量的顺序是先测量背景(或参比)得光谱强度 P 再 测样品物质得光谱强度 Pm．，将二者相除才得到实际的吸收光谱 ，通 过对数运算可得吸光度。所以测量的吸光度为 Am0(--l。g器 = log[Po(f)+go]一log[Pl(f)+g1] (2) = A 一A l 式中，P(f)，f)仍分别为样品与背景接收信号的理论功率ggo 图1硫酸盐铁钱的红外光谱图 图2K2Cr20的紫外光谱图 分别为样品与背景测量结果的误差。 图中，当红外光谱的波数为 1400．3171cm。时，吸光度的误差最 由于误差通常与真实值相 比较小，由微分原理有 大，其值为 0．0726，其吸光度约为0．7，根据光谱分析原理，此吸光度 A==log[P(f)+ 适合光谱分析。在紫外光谱中，在波长为681．5000ram 时，吸光度的 = logPi()t南 }loge