高精度测量F-P标准具间距的光谱方法.pdfVIP

维普资讯 第 3O卷 第 8期 中 国 激 光 Vo1．30，No．8 2003年 8月 CHINESEJOURNALOFLASERS August．2003 文章编号 ：0258—7025(2003)08—0739—04 高精度测量 F—P标准具间距的光谱方法 黄文财，谢建平，吕 亮，陈曦曜，明 海，鲁拥华，王安廷 (中国科学技术大学物理系 ，安徽 合肥 230026) 摘要 利用高分辨率光谱分析仪对空气隙 F—P标准具 透射谐振峰频率进 行测量 ．然后 通过直线 拟合获得 自由谱 域 ．从而计算得 出 F—P标准具的间距 。对 F—P标准具间距测量 的精度进行分析 ．F—P标准具间距测量 的相对误差为 2×lO一 提 出了一种新颖 的入射光与 F—P标准具垂直的精确调节方法 。 关键词 光学技术与仪器 ；F—P标准具 ；高分辨率光谱分析仪 ；多光束干涉 中图分类号 TN253 文献标识码 A Spectrum M ethod ofF—P Etalon SpacingHigh Precision M easurem ent HUANG W en-cai，XIEJian—ping，LU Liang， CHEN Xi—yao，M ING Hal，LU Yong—hua，W ANG An—ting (DepartmentofPhysics．UniversityofScience8LTechnologyofChina．HPfei，Anhui230026，China) Abstract In this paper．am ethod wasreportedthatused ahigh precision opticalspectrum analyzertO measure transmission resonantfrequencyofairgapF—P etalonandgotitsfreespectrum rangebylinearfitting．Thespacing ofF—Petalonwascalculatedbasedonthis．Themeasuringprecisionofthismethodwasanalyzed，whichshowedthat therelativeerrorofF—P etalon spacingm easurementwas2× 10一。．A novelmethodofF—P etalonperpendicularity adjustingwasintroducedaswel1． Keywords opticaltechniqueand instrument；F—P etalon；high precision opticalspectrum analyzer；multi—beam interferenca 1 引 言 析仪 2GHz的频率测量精度 ，F—P标准具 间距测量 的相对误差为 2×10一 。同时 ，本文还提 出了利用 近年来 ，在光纤通信 中 F-P标准具 己成为一种 自身光路实现 F—P标准具测量 中与入射光垂直 的 结构最简单 、应用广泛 的光滤波器件 ，它的主要用途 精确调节 ，整个调节过程不需要借用其他光学仪器 。 是用作解复用器[1]，特别是随着密集波分复用通信 系 统 (Dense Wavelength Division Multiplexed