传感器技术 教学课件 作者 陈建元 第四章 光电式传感器1.pptVIP

以光电器件作为转换元件的传感器。 非接触 响应快 性能可靠 用于检测直接引起光量变化的非电量 如光强、光照度、辐射测温、气体成分分析等； 用来检测能转换成光量变化的其他非电量 如零件直径、表面粗糙度、应变、位移、振动、 速度、加速度，以及物体的形状、工作状态的识别等。 五、红外辐射 能全部吸收投射到它表面的红外辐射的物体称为黑体；能全部反射的物体称为镜体；能全部透过的物体称为透明体；能部分反射、部分吸收的物体称为灰体。严格地讲，在自然界中，不存在黑体、镜体与透明体。 1、热辐射体的分类 2、热辐射的基本规律 物质分子吸收红外辐射的条件是：①分子在振动、转动运动中存在着偶极矩的周期性变化，②偶极矩周期性变化的频率（即振动频率、转动频率）与外来光子的频率一致。 六、光源特性 光源的辐射特性（例如白炽灯辐射为非相干的朗勃光源，激光器是相干光源）、光谱特性（辐射的中心波长λ和谱宽△λ）、光电转换特性（光源的电偏置与光源幅射的光学特性之间的关系）以及光源的环境特性（热系数、长时间漂移和老化等）是光源的重要参量。 根据爱因斯坦假设: 一个电子只能接受一个光子的能量.　　　　　　　　　　　　　　　 要使一个电子从物体表面逸出， 必须使光子能量ε大于该物体的表面逸出功A。 各种不同的材料具有不同的逸出功A， 因此对某特定材料而言， 将有一个频率限νo(或波长限λo)，称为“红限”: 利用辐射的热效应，通过热电变换来探测辐射 . 最常用的有电阻温度效应（热敏电阻）、温差电效应（热电偶、热电堆）和热释电效应。 量子阱探测器(QWIP)：将两种半导体材料A和B用人工方法薄层交替生长形成超晶格，在其界面，能带有突变。电子和空穴被限制在低势能阱A层内，能量量子化，称为量子阱。利用量子阱中能级电子跃迁原理可以做红外探测器。 图像传感器是对光敏阵列元件具有自扫描功能的摄像器件，它与传统的电子束扫描真空摄像管相比，具有体积小、重量轻、使用电压低（＜20V）、可靠性高和不需要强光照明等优点。因此，在军用、工业控制和民用电器中均有广泛使用。 分类 利用电荷耦合技术组成的图像传感器称为电荷耦合图像传感器，它由成排的感光元件与电荷耦合移位寄存器等构成，电荷耦合图像传感器通常可分为线型传感器和面型传感器。 PIN-PD具有响应速度快、灵敏度高、线性较好等特点，适用于光通信和光测量技术。 雪崩二极管具有很高的灵敏度和响应速度，但输出线性较差，故它特别适用于光通信中脉冲编码的工作方式。 光的全反射现象是光纤传光原理的基础。 根据几何光学原理，当光线以较小入射角θ1由光密介质1射向光疏介质2(n1＞n2)时(见图9.2)，一部分入射光以折射角θ2折射入介质2，其余部分仍以θ1反射回介质1。 依据光折射和反射的斯涅尔(Snell)定律，有： 因此，当θ1＞θc时，光线将不再折射入介质2，而在介质(纤芯)内产生连续向前的全反射，直至由终端面射出。这就是光纤传光的工作基础。 光线由折射率为n0的外界介质(空气n0=1)射入纤芯时实现全反射的临界角(始端最大入射角) 设光纤入射端与出射端的光功率分别为Pi和Po，光纤长度为L(km)。则光纤的损耗 a（dB/km)可用下式计算： 引起光纤损耗的因素可归结为吸收损耗和散射损耗两类。 物质的吸收作用使传输的光能变成热能，造成光功能的损失。 散射损耗是由于光纤的材料及其不均匀性或其几何尺寸的缺陷引起的。如瑞利散射就是由于材料的缺陷引起折射率随机性变化所致。 光导纤维的弯曲也会造成散射损耗。 光纤的色散是表征光纤传输特征的一个重要参数，它反映传输带宽，关系到通讯信息的容量和品质。 光纤的色散就是输入脉冲在光纤传输过程中，由于光波的群速度不同而出现的脉冲展宽现象。光纤色散使传输的信号脉冲发生畸变，从而限制了光纤的传输带宽。 光纤色散分三种： 材料色散、波导色散、多模色散 材料色散 材料的折射率随光波长λ的变化而变化，这使光信号中各波长分量的光的群速度cg不同，故又称折射率色散。 波导色散 由于波导结构不同，某一波导模式的传播常数β随着信号角频率ω变化而引起色散，有时也称为结构色散。 多模色散 在多模光纤中，由于各个模式在同一角频率下的传播常数不同、群速度不同而产生的色散。 微弯损耗强度调制器的原理如图。当垂直于光纤轴线的应力使光纤发生弯曲时，传输光有一部分会泄漏到包层中去。 外调制技术的调制环节通常在光纤外部，