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第42卷第5期 原子能科学技术 V01．42，No．5
and
Atomic Science 2008
2008年5月 Energy Technology May
电子束辐照聚二甲基硅烷的结构分析
熊亮萍，许云书
(中国工程物理研究院核物理与化学研究所，四JII绵阳621900)
摘要i在室温、真空条件下，利用加速器产生的高能电子束辐照聚二甲基硅烷(PDMS)试样，研究吸收剂
量对其结构的影响。通过气相色谱一质谱联用分析可知，辐照过程中产生了少量Hz和CH．，且Hz的产
率高于CH。。FT-IR、激光拉曼光谱以及XRD分析结果表明，经超高剂量(MGy级)辐照后，聚二甲基硅
烷的化学结构未发生明显变化，其晶态结构也未遭破坏。这些结果说明，PDMS具有异乎寻常的耐辐射
性能，这可能归因于其主链上规整Si—Si键的d电子离域运动所形成的a共轭体系的特殊结构。
关键词：聚二甲基硅烷；电子束，辐照；结构分析
中图分类号：TQ264．1；0631．34文献标志码：A 文章编号：1000-6931(2008)05—0404-04
Structuralof Irradiated
AnalysisPolydimethylsilane
ElectronBeam
by
XIONG Yun-shu
Liang—ping，XU
(China 621900，China)
AcademyofEngineeringPhysics，P．0．Box919—214，Mianyang
wereirradiatedelectronbeam(EB)
by
Abstract：Polydimethylsilane(PDMS)samples
invacuumatroom the betweenitsstructureandabsorbed
temperature，andrelationship
dosewas resultofGC-MSrevealsthatasmallamountof and
investigated．The H2 CH4
iS andXRDcurvesshowthatthechemicaland
released．FT—IR，Raman crystal
spectra
structureofPDMSarenot afterirradiatedwith doseofseveral
changed extremelyhigh
resultsindicatethattheradiationtoleranceofPDMSiSexcellent，which
MGy．These
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