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第42卷第5期 原子能科学技术 V01.42,No.5
and
Atomic Science 2008
2008年5月 Energy Technology May
电子束辐照聚二甲基硅烷的结构分析
熊亮萍,许云书
(中国工程物理研究院核物理与化学研究所,四JII绵阳621900)
摘要i在室温、真空条件下,利用加速器产生的高能电子束辐照聚二甲基硅烷(PDMS)试样,研究吸收剂
量对其结构的影响。通过气相色谱一质谱联用分析可知,辐照过程中产生了少量Hz和CH.,且Hz的产
率高于CH。。FT-IR、激光拉曼光谱以及XRD分析结果表明,经超高剂量(MGy级)辐照后,聚二甲基硅
烷的化学结构未发生明显变化,其晶态结构也未遭破坏。这些结果说明,PDMS具有异乎寻常的耐辐射
性能,这可能归因于其主链上规整Si—Si键的d电子离域运动所形成的a共轭体系的特殊结构。
关键词:聚二甲基硅烷;电子束,辐照;结构分析
中图分类号:TQ264.1;0631.34文献标志码:A 文章编号:1000-6931(2008)05—0404-04
Structuralof Irradiated
AnalysisPolydimethylsilane
ElectronBeam
by
XIONG Yun-shu
Liang—ping,XU
(China 621900,China)
AcademyofEngineeringPhysics,P.0.Box919—214,Mianyang
wereirradiatedelectronbeam(EB)
by
Abstract:Polydimethylsilane(PDMS)samples
invacuumatroom the betweenitsstructureandabsorbed
temperature,andrelationship
dosewas resultofGC-MSrevealsthatasmallamountof and
investigated.The H2 CH4
iS andXRDcurvesshowthatthechemicaland
released.FT—IR,Raman crystal
spectra
structureofPDMSarenot afterirradiatedwith doseofseveral
changed extremelyhigh
resultsindicatethattheradiationtoleranceofPDMSiSexcellent,which
MGy.These
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