红外焦平面长波探测器组件特性参数测试方法及相关视场角的讨论.pdfVIP

红外焦平面长波探测器组件特性参数测试方法 及相关视场角的讨论 孙光荚 刘庆京 程有度 (华北光电技术研究所 北京 100015) 摘要：为得到精确的焦平面探测器特性参数指标，以长波4x288(4N)焦平面探测器为例， selnst ofView) 讨论如何通过PI(Pulrident)测试系统进行参数测试并设定视场角FOV(Field 这个参数值．文中简要介绍了PI测试系统的功能、校验及测试方法；推导出适用于4N器件的较为 精确的视场角参数计算公式，并对典型器件以往的特性参数测试结果进行了分析及修正处理． 关键词：PI测试系统：焦平面探测器；视场角；响应率；探测率；非均匀性． 1 前言 随着红外焦平面探测器研制工艺的不断发展和完善，探测器经历了由单元器件向长线列器什、 焦平面器仆、人面阵凝视器件发展的过程。随着探测元数的增多、芯片尺寸也随之增大，但是相对 来说元数的增加率要高于芯片尺寸的增大率。探测器制造工艺的不断改进与完善要求相应的测试技 术也就更加的严格化、规范化、科学化和合理化。 2 Pl测试系统简介… PI系列是美国公司制造的低噪卢直流偏置和时钟驱动测试系统，可以用于测试电荷耦合器件、 红外探测器和焦平面阵列的特性参数(响应率、探测率、信号电平、噪声、信噪比、非均匀性和百 低系统噪卢的问题，例如：采用低噪声的直流偏置和脉冲驱动：分离开的模拟电源和数字电源：数 据采集仁的转换输出也采用光隔离技术等。 PI进行测鼙时首先在计算机中设定测试软件程序(可以在程序中设定器件工作所需的脉冲和直 流偏置，采集脉冲的波形和频率)、黑体温度、前置放大器接口连接模式、采集卡的：I：作状态、数据 的输出格式等。其次，执行此测试程序，经IEEE--488总线向数据发生器发出指令．产生采集的脉冲 波形(行、点、帧脉冲信号)，然后发送到数据采集忙；同时它也作为脉冲驱动鼻的同步信号，分别 由脉冲驱动卡和直流偏置乍产生测试器件所需的脉冲波形和直流偏置，由用户界面}引出；与此同 时控制主扳通过PI．BUS总线控制仪器主扳的脉冲和偏置。然后，由点源或面源黑体作为辐射源，通 过操作面板为器件提供所需的脉冲及偏置信号，前置放火器的接收器件的输出信号并差分输入到AD 采集F，在计算机上进行数据处理及图形绘制，最终输出测试结果报告。 为进～步降低噪声，对PI测试系统进行了一定的改进。如自制驱动板提供测试所需的脉冲、偏 置以及同步采集信号，完成前放的功能；驱动板的输出信号直接送到AD采集}以克服前放较人的 嗣有噪声。经过测量和验证，优良的电路驱动扳产生的整体系统噪声约为o．1mV(带宽：1MHz)， 这人人降低了以往测试结果中引入的系统噪声，同时更加精确地反映出被测器件的真实性能，最终 得到比较精确的器件性能参数测试结果。 ·PI测试系统的测试报告结果验证 表1测试法国Sofradir的长波4N焦平面器件 特性参数 法国的测量报告结果 PI系统的测量撤告结果 峰值响应率(V／W1 I．92×10‘ 1．93×10 峰值探测牢(cmHzl，2W-I) 2．327×10” 2．324×10。1 噪声(mV／IMHz) 0350 0352 根据袭1得出：PI测试系统测试器件的噪卢、响应率和探测率等性能参数指标与法国器件的出 厂报告相当吻合．可见完善化的PI测试系统性能优良、测试数据准确、精度高。 75 3理论依据 为得剑精确的探测器特性参数测试结果，要求准确地处理测试采集到的原始数据(例如，在数 据处理计算公式中提供准确的已知参数)。以砸源黑体作为辐射源．器件选用圆形冷屏的集成杜瓦组 件为例”I。探测器的几个重要性能参数指标计算公式如‘F”1： …懈R=嵩‰罐蒜黧燃黼 墨=志(v肿