薄试样的高分辨电子显微像的形成原理的研究.pdfVIP

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2017-08-16 发布于安徽
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薄试样的高分辨电子显微像的形成原理的研究.pdf

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薄试样的高分辨电子显微像的形成原理研究王英敏1董闯1 李春艳1石勇 2 大连理工大学1.材料学院2.环境学院，辽宁大连116024 高分辨透射电镜(highresolutiontransmission electronmicroscopy，HRTEM)能直接反映晶体的投影结构，是目前确定晶体材料原子结构的一项关键技术。与之相对应的高分辨电子显微像图像处理技术实质是电子显微像成像的求逆过程，即从像函数出发求得晶体结构的方法。目前，最常用的是尝试法[1]、出射波重构法[2]和解卷技术[3，4]。(1)尝试法是一种传统方法，主要通过像模拟计算才有可能正确地解释实验高分辨像。(2)出射波重构的方法是目前日趋成熟的高分辨像图像处理方法，它能消除欠焦、球差等对图像的影响，解决了相衬离位现象，还可以精确测定原子列的位置，将电镜的分辨率由点分辨极限延伸至其信息分辨极限。