CPU-80C86电路对EMP的敏感性的研究.pdfVIP

第11届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集 ofthe National llth ConferenceOilNuclear Proceedings ElectronicsNuclearDetection Technology 许仲德，高 松，姚 达，蔡 振，陈桂梅，袁 凯，张 丽 (东北微电子研究所，辽宁沈阳110032) 摘要：介绍了首次对CPU类超大规模集成电路(VLSI)所进行的EMP效应的敏感性摸捌试验，并 简单描述了电磁脉冲方波注入对80C86 CPU电路产生的干扰情况。 关键词：cPu；VLs欠EMP^ 0引言 进行EMP方波注入试验，以初步确定其干扰 阈值和损伤闽值。试验装置及原理如图2所示。 从1945年7月16日，美国进行第一次原 RU ^￡m I ^Ol L。(《K(WR 子弹试验时起，电磁脉冲(EMP)对电子系统、 Qst吐LE} ^n! 电子器件等引起的干扰和损伤就引起人们的广 OS“l啊AI A“ ^DJ 泛关注。多年以来，国内在电阻器、电容器、半导 轴V‘琏NI A￡” ihIrr币) ^晰 体分立器件、中小规模集成电路(MSI／SSI)等 铀、月OI ^D7 ^DH 方面也做过大量的试验研究。我们首次对CPU 0 耳石-石轧HOLDI ^肿 雨j饼J州LDAI ^u冲 类超大规模集成电路(Vl。SI)进行了EMP效应 ^Dll 的敏感性模拟试验，本试验采用电磁脉冲方波 *，～ VT)I) ^D12 ^D13 ll NMI ADl4 注入法，主要是探索CPU类电路80C86对电 ¨ lNlR ^D】j 。i。ji。i二州州州号：州刈三}刮 磁脉冲的敏感端对，并初步了解外加电磁脉冲 kIN’MX 方波注入对80C86 CPU电路的干扰、损伤情 TEST^DI幅3 况。 READY ADJ耳朝