从芯片的设计考虑改善电磁干扰地研究.pdfVIP

=『 二碍}‘孑 从芯片的设计考虑改善电磁千扰的研究 刘谦编译 湖南省邮电技术中心41001l 1．引言 随着集成电路的运算速率加快，集成度提高，噪声的增加，电磁干扰橱题对于集 成电路的设计者来说也日益尖锐，甚至成为了一个决定芯片集成度的关键因素。 集成电路设计者在设计中很少考虑电磁兼容性，因此有可能其设计通过了功能性 测试，但在到达生产线或用户手中之后被检测为电磁干扰源。 因此，电磁兼容问题应该在设计一开始就作为一个专题予以考虑。关于印制电路 板，有不少考虑电磁干扰因素的研究，也存在相当多准则来抑制电磁干扰。 然而，从芯片上来考虑电磁干扰问题的仍不是很多。直到现在，大部分设计者仍 确信完善的印制电路板设计可完全解决电磁干扰问题。然而，设备制造者最近要求为 解决电磁干扰问题，不仅要从印制电路板的设计考虑，还要从芯片的设计来考虐。针 对这种需求，本文从芯片的设计考虑提出了几种解决电磁干扰问题的方案。 2． 正文 表l所示。‘ 表1 KSSB(30604的结构 ’ 芯片尺寸 2688(um)×3980(um) 酬oS处理 0．8um，二合金，几种垫层处理 外部频率 4t旺Iz(晶体振荡器) 系统(芯片)频率 4MHz 元器件功能模块 时钟，复位、ROH，输出接口、R埘，程序计数器 于键盘印制电路板的芯片，因此不会受其它电磁干扰源的影响。为了消除显示器和Pc 对其产生的电磁干扰，键盘在测量时被隔离在GT蹦内。电磁干扰测量所需的条件如表 2所示。 表2 电磁干扰测量的配置 屏蔽室 EG-Tll00(GT／强I元，ELENA) 脚I接收器 ESS，rohde＆schWaz 键盘 SilitekK／B PC系统 三星绿色计算机SPC7500P 监视器模式 csQ4387(D) 实验条件和详细说明如表3所示． 表3 可能的解决方案的条件 序号 条件 A 标准(VSS-160um，VI)D一120urn) B 电源线宽尺寸(VSS一190urn，VDD-150um) 电源电容(输A／输出和内部电容，切缝B基部电容) C 十 pF 输入／输出电源电容一586pF，内部电源电容——1182 D pF(基于C) 输出端口电容：c一10．4 E