瞬变电压抑制器失效模式和失效机理研究.pdfVIP

备 P 瞬变 电压抑制器失效模式和失效机理研究 黎明秀，贾颖 (北京航空航天大学 可靠性工程研究所，北京 100191) 摘要：由于 目前对 rvs自身可靠性的研究较少，提出了对Tvs产品的可靠性研究。这项研 究得到国内Tvs生产厂家的支持，对该厂6个型号 r’vs筛选进行了跟踪 。根据筛选失效数据 ， 对温度循环、箝位冲击、高温反偏和功率老炼等 rvS失效 比例较大的筛选项 目的失效品，经过 电参数测试、解剖、显微观察，确定失效模式、分析失效机理。结果表明，Tvs主要失效模式有 短路、开路、反向漏电流大和异常击穿，且高击穿电压 Tvs更易发生失效。 关键词：瞬变电压抑制器；筛选；可靠性；失效模式；失效机理 中图分类号：TN306；TN31 文献标识码：A 文章编号：1003．353X (2008)11．1024-04 StudyonFailureModesandFailureMechanisms ofTransientVoltageSuppressor LiMingxiu，JiaYing (InstituteofReliability ￡emEngineering，BeihangUniversity，Bejiing100191，China) Abstract：Now researchesontITSreliabilityaredeficiency，theresearchontherelibaility0fTVSwas proposed．nleworkobtainedvigoroussupportsbydomesticTVSmanufacturers．andperformanceofsixtypes 0fⅣ Sunderscreen testswasresearched．Samplesofthe failed Ⅳ Sunderscreen testsoftemperature cycling，voltageclamping，hishtemperaturereversebias and steadyoperatingpowerwere naalyzed，under whichfailureratiosofⅣ Swerehigerthna otherscreentests．Failure modesandfailuremechanismsofthese TVSwereinvestigatedbyelectricalparameterstest．anatomynadmicroscope．I11eresultsshowthatthemajor failure modesofTvSareshort·circuit，open-circuit，largereverseleakagecurrentandba normal breakdown， andhighvoltageⅣ Salemolevulnerbaletogetfailed． Keywords：rIvS (trnasientvoltage suppressor)；screening；relibaility；failure mode；failure mechna ism EEACC：2530：2560 造已有很多年的经验 ，制造工艺水平也有了很大提 0 引言 高，但是 由’Ⅳs失效引起的整机 中器件或部件损 Tvs作为一种电路保护器件 ，其可靠性直接关 坏的现象仍有发生，Tvs产品的可靠性有待进一步 系到被保护电路的使用可靠性。若 Tvs发生短路 提高。失效分析是找出产品缺陷以便提高产品可靠 失效，还可能导致整机中其他器件或部件损坏。若 性的最为有效的方法之一，而适当的筛选方案及顺 rvs管体或