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21世纪材料高速分析第三届全国高速分析学术交流会论文集 综论碳和硫的红外光谱法测定 田英炎1。张兴宝2 (1．西安理工大学，西安7100483 2．无锡英之诚仪器有限公司，无锡214151) 红外光谱法测定碳和硫的量，是国内外公认的又好又快的分析方法。根据燃烧系统的不同，有高频和红 外光谱法；管式炉红外光谱法；还有我国特有的电弧炉红外光谱法。其中以电弧炉红外光谱法燃烧速度最 快；高频红外光谱法应用最广泛；而管式炉红外光谱法生成CO的量最少。为了提高分析的精度与准确度， 工作实践中发现影响因素较多，有仪器硬件问题，也有分析方法问题。 本法综合了分析中的10个问题，提示如下。 l仪器分析性能的检验 1．1冷热态基线试验 采用仪器分析条件，不加坩埚和样品进行一次分析，即冷态基线试验。同样采取上述的分析条件进行一 次样品分析，分析结束后不移走坩埚，立即再执行一次不加样品和添加剂的分析，即热态基线试验。此两次 试验结果都应趋近于零(一o)即仪器分析条件下空白为零，说明仪器设置分析条件合理。 1．2仪器分辨率(灵敏度) 分辨率：碳和硫为l×10-5％。 分析精度：测定低含量(×10_4％级)样品进行分析，碳、硫的分析精度在士2×10-4％。 1．3标样增减量试验 为了考虑减去空白后分析结果的线性，在仪器上分析几个试样，特别是低含量试样，其结果表明，碳和硫 的分析结果都随试样的增减而比例的增减，说明仪器分析线性良好。 l-4仪器扩展性能 测定高碳和高硫，如90％的碳量，90％的硫量，是靠少称样，利用仪器扩展性能来完成。根据高碳池和 硫池的容量，选定碳量10～15mg、硫量1～3mg，否则会带来测量池的溢出。但也要关注称量误差和扩展 误差。称量可用十万分之一的天平或用固体稀释技术(用万分之一的天平)。减少扩展误差，添加剂需定量 加入并合理扣除空白。用同种等量标准试样分析数次，计算符合线性，数据又接近，说明扩展性好。 1．5方法的精密度试验 按试验方法和仪器操作说明，用同种样品连续测定11次，所得数值越接近，说明精密度越好。 2坩埚的处理 000～1 普通坩埚碳空白值在0．005％以上，因此使用前必须在1 200℃的马弗炉内灼烧4h以上，这样 h， 处理，对常量碳和半微量碳的测定精度不受影响。若用于超低碳分析，还得在1300℃通氧气灼烧1～2 取出即用，这样空白可能更小。也可以用“打底坩埚”即在坩埚中加人0．5g纯铁、钨粒1．5g，在高频炉中， 通氧燃烧，冷后即用。此法处理，坩埚空白值最小，用来分析超低碳硫，效果最好。也是降低坩埚碳空白非常 有效的简便方法。 3添加剂空白 钨系列助熔剂。如纯钨粒、钨+锡、钨+纯铁、钨+锡+纯铁等是高频常用的添加剂。 添加剂作为化学制品，有规格要求。常量碳和硫测定，要用分析纯，低含量测定，有时用光谱法纯或电子 纯试剂，要求杂质要少，碳和硫含量要低。另外对添加剂的几何形状、粒度、空隙度等物理性能也应注意。如 ·8‘ 田英炎等：综论碳和硫的红外光谱法测定 钨系列助熔剂，粒径在0．84,-,一0．42mE，孔隙度15％左右，这样透气性好，反应快，有利于氧化燃烧。要求添 加剂的空白值要小，一般应小于被测元素碳和硫含量的10％，此项要求对于高含量碳和硫的测定，不会引起 很大的麻烦，而对于低含量碳和硫的测定，就是很大的问题。如碳和硫量均为5×10_4％的试样测定，要求 钨添加剂中碳和硫含量均小于5×10-5％，若每次分析加入1．5g钨粒助熔其含碳量应小于8×10-5％。而 优良的国产钨添加剂空白值在3×10．4％以上，难以用于超低碳分析。经过研讨，国产的钨粒几何形态与进 口的钨粒有差异，前者表面粗而不光，后者表面细而光滑，前者吸收环境中的C02较多，后者吸收环境中的 C02较少。表面吸附引入空白。经过对国产钨助熔剂进行表面处理(44学抛光或洗涤)，空白下降至5× 10-5左右，而且较稳定。达到并超过美国LEDO助熔剂的指标。可用于超低碳分析。另外选用太原纯铁助 熔剂(C型)，其空白值在3×10-4％，而且较稳定。选用经升华