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片式电子元件可靠性的快速评价 王锡清 冯泽松 信息产业部电子五所(广州5 10610) 国营七九八厂(北京100015) 摘要：本文介绍了片式电子元件可靠性快速评价的新方法——蒜台试验应力加速 寿命试验方法。以片式瓷介电容器为倒，概述了综合试验应力加速寿命试验方法的数 学模型、加速寿命方程及其失效率的预计方法，概述了综合试验应力加速寿命试验方 法推广应用的实例及数据统计结果。 一．前言 电子产品和军事装备的智能化、微型化和集成化的蓬勃发展，推动了电装工艺的 变革和电装高技术的进步．作为电装新技术的技术基础及先决条件，片式电子元件是 当前世界上发展得最快的元件，九十年代以来每年以30％的增长率高速发展。片式电 子元件是表面安装和微型组装技术的重要组成部分，因此片式电子元件的质量和可靠 性越来越引起电子工程界的关注。 高应力加速寿命试验是国际上九十年代开始研究的新的加速寿命试验技术，它是 在不改变产品失效机理的前提下．采用比较高的加速应力进行加速寿命试验．从而进 一步缩短试验时间，达到快速评价元件可靠性的目的。此外，高应力加速寿命试验方 法还可以应用于片式电子元件的可靠性筛选试验。 采用高加速试验应力是以产品失效分布及失效概率为基础的，开展步进应力加速 寿命试验可以用较短的时间了解产品承受的极限应力，确定产品的试验应力和失效概 率的关系．从而为选择加速试验应力范围和加速寿命试验设计提供依据。 温度和电压综合试验应力是采用高加速试验应力的成功例子．它的其突出优点是， 在完成片式电子元件电压加速寿命试验及温度电压综合试验应力加速寿命试验基础 上，经数理统计及研究就同时获得了产品的电压加速指数和激活能，因而在推广使用元 件综合试验应力加速寿命试验方法时．只要开展一至二组短时间的综合试验应力加速 寿命试验就可以快速预计产品的可靠性水平。 本文概述了温度和电压综合试验应力加速寿命试验方法。以片式瓷介电容器为 倒，综述了综合试验应力加速寿命方程及其失效率的预计方法，总结了片式瓷介电容 器长期寿命试验结果及对综合试验应力加速寿命试验方程的验证。概述了综合试验应 力加速寿命试验方法推广应用至军用片式瓷介电容器生产线、国内外片式瓷介电容器 四次采用综合试验应力加速寿命试验的推广应用实例及数据统计结果。 ·162· 二．综合试验应力加速寿命试验方法 综合试验应力加速寿命试验方法的数学模型来自爱林模型，爱林模型不仅描述了 温度应力对电子元器件参数退化(或失效)的影响，而且还包括7对非热应力(如 电压、功率、湿度等)的扩展， 7KT) (2．1) R(T．81=e^一日”es(o+o 式中：R(T-S1——电子元件退化量，S——非热应力参数， K——波尔兹曼常数．T-一热应力参数 C和D——常数，它们和A、B类似地由加速试验数据分析决定． 产品性能退化量度f；(Q)对时间的关系可表示为： ffQ)；R(T，S)t (2．2) (2．2)式宁：t——产品在特定温度T和非热应力S应力水平下的工作时间； R(T,S)——退化速率． f’(Q)=R(T‘，S1)f (2．3) 而(2．3)式中带撤的符号表示高应力试验条件． t‘确定， f(Q)和f。(Q)表示相同的退化水平．产品的加速系数由关系式t=t 所以从(2．2)式和(2．3)式可得出加速系数一 t=R(T。，S。)，R(T，S) (2．4) 将(2．1)式代入