改进可满足性的测试向量生成算法.pdfVIP

第 32卷 第 3期 四川大 学 学报 (工 程科 学版 ) Ⅷ 32No3 20OO年5月 JOURNALOFSICHUANUN1VERSrIY(F~GINEERINGSCIENCEEDITION) May20OO 文章编号：1∞ 3087(200D)加54 改进可满足性的测试向量生成算法 卜 型，遁 c7 (1四川大学 电力工程系，成都610~65； 2电子科技大学 CAT室，成都 610054) 摘 要：描述了可满足性的测试向量生成(AST-A~G)算法，针对此算法的不足．提出反向路径敏化算法(BPS)嵌入 SAT-ATW．中．减步了CNF的构成时间和搜索空阗，而且减轻故障压缩的工作量 ，又不损失最终测试集的精简。 关键词：搜索算法；测试向量 自动生成 ；数字电路；反向路径敏化算法 中图分类号：TNT07可猷隆 剜j ． ImprovingAlgorfthm forTest ZENGCheng-bi，CHENC．uang-ju (1D ElectricalP~werEng．，Sichumu o 土u6t006S．Chim ；2 t0fCAr LI~ST、 日血610065，chnia) Almtraet：lmthepaperwedescribeanefficient for埘 -- SAT-ATPGP8l basedonPropositinoalSaris— fmbility(SAT)．To ㈣ htemgorithm’sdrawbacks，hteBPS(BackwardPathSensitizationAlgotithm)pn~xJeedhas beenincorporatedintoSAT—ATPG．CPUtimeofgneeratingCNFandhtetraversingspacem reduced．qhismgenth~ n ocanpacttestset t}llowprice． Keywor~ ：searchalgodthm；automatictestpattem generation；digi~ circuits；backwardpathsemitizadno algorithm； 最近的几十年提出了许多v3．SI的测试向量 自 入SAT-ATPG中，减少了CNF的构成时间和搜索空 动生成(ATPG)算法，太部分对基准电路都很有效， 间。 能达到很高的故障覆盖率。本文介绍较少研究的完 1 基本定义和原理 全性ATPG算法，完全性ATPG算法是一种仅依靠有 效简化搜索量的搜索算法．对有许多难测故障和缺 首先介绍电路和故障诊断的表示，组合逻辑电 乏启发式技术的电路至关重要。 路表示为有向无环图C=( ， )。 即电路节点 本文描述了基于可满足性 SAT(Satisfiability)的 为源输入或门输出。边集Ec： × 指门输入输 ATPG算法_6j，SAT-ATPG成功诊断所有的故障不需 出连接。假定门为有界扇人则 l＆ l_0(1Ⅳ1)。 太多的启发式知识。然而，此算法的CPU大部分时 中的每一电路节点 定义如下 ，l： 阃是生成CNF式．而且此算法中为每个故障生成一 - 0 ()表示 的传递扇出节点，即有连接 个的测试 向量，通过压缩_3 可达到精简测试集。