一种用于可编程逻辑的阵列的单粒子翻转试验系统设计研究.pdfVIP

第 l4卷 第 29期 2014年 10月 科 学 技 术 与 工 程 V0l_14 No．29 0ct．2014 l671— 1815(2014)29—0212—04 ScienceTechnologyandEngineering ④ 2014 Sci．Tech．Engrg． 通信技术 一 种用于可编程逻辑的阵列的单粒子 翻转试验系统设计研究 包朝伟 温长清 杨振华 王佩宁 (深圳市国微电子有限公司 ，深圳 518057；哈尔滨工业大学深圳研究生院 ，深圳 518055) 摘 要 单粒子翻转(SEU)试验是测试FPGA芯片抗单粒子翻转性能的重要方法。提出了一种用于测试 FPGA芯片抗单粒 子翻转性能的试验系统；该系统通过比对待测FPGA芯片输出数据序列和正确数据来判断是否发生数据翻转。如果发生数据 翻转，则进一步统计翻转次数和翻转性质，从而能够较全面的测试 FPGA芯片的抗单粒子翻转性能。运用该试验系统对某款 FPGA芯片进行 了单粒子翻转试验，测试结果显示该试验系统能够正确评估被测芯片的抗单粒子翻转性能。 关键词 单粒子翻转 可编程逻辑的阵列 试验系统 中图法分类号 TN47； 文献标志码 A 单粒子效应是空问单个高能粒子、质子、重离子 主控 FPGA芯片及其 FLASH配置片、待测 FPGA芯 或中子轰击微 电子器件，导致微电子器件逻辑功能 片若干片等。单粒子翻转测试现场所使用的辐照试 r 翻转或器件损坏的事件 ¨J，空间辐射环境中的高能 验板实物图如图2所示。其中电源模块为主控FP— ■ 质子、重离子等都能导致航天器 电子系统中的半导 GA芯片及其FLASH配置片、待测芯片、通信接 口电 控程记笔腑 体器件发生单粒子效应，严重影响航天器的可靠性 路供电；主控 FPGA用于对被测芯片进行控制，发送 和寿命 ’。在 FPGA器件用于空间领域时，如何抵 测试激励并比对输 出结果；FLASH配置片用于存储 抗单粒子翻转效应，成为FPGA芯片在太空应用 中 主控 FPGA的配置信息；通信接 口电路用于实现与 的关键 |4 。为了评估 FPGA芯片的抗单粒子翻转 上位机通信，通常采用 RS442标准，以提高传输可 性能，提出了一种用于 FPGA的单粒子翻转试验系 靠性；待测芯片包括多个某款反熔丝型抗辐照 FP— 统，并对其系统架构和评估效果进行了设计和研究。 GA原型验证芯片，这些被测芯片在进行单粒子翻 1 试验系统架构 转试验前已经被编程配置成不同长度的移位寄存器 的电路功能。根据高能辐照离子源覆盖面积的大 设计的单粒子翻转试验系统主要包括高能辐照 小，主控 FPGA芯片与被测芯片之间应相隔一定距 离子源、信号传输线缆、电源、PC上位机、远程控制 离(例如 5cm)，避免主控 FPGA受到单粒子攻击。 笔记本 电脑和辐照试验板等，整个测试系统示意图 如图1所示。高能辐照离子源用于模拟空问环境中 的高能粒子对被测芯片的攻击过程；信号传输线缆 用于实现上位机和辐照试验板之间的通信；电源用 于给整个试验系统供电；PC上位机用于控制辐照试 验板，并显示和保存实验数据；远程控制笔记本电脑 用于远程操控 PC上位机 ，便于在单粒子靶室外对 PC上位机进行控制 。 辐照试验板主要包括电源模块、通信接 口电路、 2014年4月23日收到 图1 单粒子翻转试验系统示意图 第一作者简介 ：包朝伟 ，男。E—mailqq．oom。 Fig．1 Schematicdiagram ofsingle eventup