OLED电极引线的腐蚀机理分析.pdfVIP

第 47 卷 　第 6 期 复 旦 学 报 ( 自然科学版) Vol. 47 No . 6 2008 年 12 月 Jou nal of Fudan Unive sity (Nat u al Science) Dec . 2008 2 2 2 　　文章编号 : 04 27 7104 (2 00 8) 06 0769 04 OL ED 电 极 引 线 的 腐 蚀 机 理 分 析 1 1 1 2 2 彭雅芳 ,俞宏坤 ,蒋益明 ,余 　峰 ,张积梅 ( 1. 复旦大学 材料科 学系 ,上海 2 00433 ; 2. 上海广 电电子股份有限公司 ,上海 2000 81) ( ) 摘 　要 : 有机 电致 发光器件 OL ED 电极引线发生腐蚀是 OL ED 失效的重要原因. 用 X RD ,XPS ,SEM 和 EDX 等 方法对镀 C 的 I TO 电极引线样品的腐蚀产物成分 、结构和形貌进行了分析 ,XRD 和 XPS 结果表明镀层 C 反应 ( ) 生成 C O H 3和 C O3 , SEM 和 EDX 结果表明 C 先腐蚀 , ITO 随后发生腐蚀 . 然后通过对 引线样 品在不同溶液 中的极化曲线分析 ,得知 C 腐蚀产物的价态与其所处的电位有关 , 且氯离子对 I TO 腐蚀 具有促进作 用. 最后根 据实验结果对 电极引线腐蚀的全过程提出一简化模型进行解释 . 关键词 : 有机 电致发光器件 ; 铬镀层 ; 氧化铟锡玻璃 ; 电极引线腐蚀 中图分类号 : TN 304 . 07 ; TN 305 . 3 　　　　文献标识码 : A 2 [ 1] 　　有机电致发光器件 (o ganic li ght emit ti ng device , OL ED) 自1987 年面世以来 ,就 因其具有低驱动电 压 、低功耗、主动发光 、宽视角等众多优点[2 ] ,赢得了广泛的关注 ,与此 同时 OL ED 的可靠性也一直是研究 的热点. 近年来 ,随着材料 、干燥剂及封装技术 的进步[3 ] ,OL ED 的实用寿命和可靠性得到了很大 的提高 . 在 OL ED 逐步走 向实用化商品化的同时 ,一些新 的可靠性问题应运而生 ,电极引线腐蚀造成 的器件失效 就是其 中之一. 电极引线是连接 电压驱动与发光器件的电极 的部位 ,其腐蚀直接破坏驱动与器件之间的电 连接从而导致器件失效. 因此找 出电极引线腐蚀发生的机理并提 出控制方案以减少此类现象的发生 ,对提 高 OL ED 的可靠性至关重要. ( ) ( ) 器件 中的引线是镀有 300 nm 厚铬层 C 的 150 n m 厚的氧 化铟 锡玻 璃 I TO ,经光刻得到宽为 22 [4 ] μ μ m 的平行条纹作为引线 ,引线间距为 30 m . ITO 因具有对可见光和近红