站用瓷材料离子迁移特性的试验研究.pdfVIP

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2017-08-09 发布于安徽
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站用瓷材料离子迁移特性的试验研究.pdf

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绝缘老化及故障诊断站用瓷材料离子迁移特性的试验研究齐波1，宿志一2，李成榕1等摘要：本文研究了站用瓷材料在直流电场下的离子迁移特性，对两种类型的试品分别进行了长期离子迁移老化试验，探讨了离子迁移对站用瓷材料老化以及使用寿命的影响。研究结果表明：当瓷材料中Na’ 离子的舍量较低时，离子迁移不会对直流棒形瓷绝缘子的长期机械性能产生影响，但会使直流瓷套管的长期电气性能有所降低：离子迁移通常不会影响Na+含量较低的瓷套管的使用寿命．关键词：离子迁移；老化试验；使用寿命；绝缘子；套管 researchontheIon ofCeramic Experimental Migration in MaterialUsedtheSubstation QfBe。，SuZhi-yi2，LiCheng-rong‘etal． (1． ofElectrical ElectricPower 102206，China College Engineering，NorthChina University,Beijing Electric 2．China PowerResearch hasstudiedtheceramicmatedal’s underDC Abstraet：This口aper characteristic field， ion．migration fortwo carriedout ion test kinds discussedtheion influence long-termmigration objects。and migration’s ofthe onthe and life material．Theresultoftheresearchindicatesthatwhenthecontentof agingoperating Na十is iron eantinfluencethemechanical oftheceramic low,the relatively migration performance support insulalorsandCanoause declineoftheelectrical oftheceramic addition． slight perfoITflfjfflce bushings，In iron makesnoeffectonthe lireoftheceramic underthiskindofcondition． migration operating bushings KeyWords；IonMigration，agingtest，operatinglife，insulators，bushings 试验标准IECl325为依据，提出了适用于直流棒 1、引言形绝缘子试晶和直流套管试