MCM互连测试中的神经网络模型研究.pdfVIP

维普资讯 第25卷第2期 仪 器 仪 表 学 报 2004年4月 MCM 互连测试中的神经网络模型研究 李 智 郑 东。 莫 玮 陈光稿 (电子科技大学 成都 610054) (桂林电子工业学院 桂林 541004) 摘要 针对多芯片组件 (Multi—chipModule)互连测试的特点，用构造互连结构的神经网络状态表，求解满足状态表所有状态 的能量 函数方程组 的一组解来获得神经网络模型参数 的方法 ，为互连网络的正常状态和几类典型的故障状态分别建立了对 应的二值 Hopfiled神经网络模型，并验证了模型的正确性。 关键词 多芯片组件 互连测试 神经网络 能量函数 StudyonNeuralNetworkM odelsforM CM InterconnectTesting LiZhi’ ZhengDong MoWei ChenGuangju (UniversityofElectronicScienceandTechnologyofChina，Chengdu610054，China) (GuilinUniversityofElectronicTechnology，Guilin541004．China) Abstract SomediscreteHopfieldneuralnetworkmodelsforthenormalstateandfaultystatesofinterconnect structurearebuiltupseparately，withamethodbyconstructingtheneuralnetworkstatetable(NNST)andcal— culatingonesolutionofenergyfunctionequationsfortheNNST toacquiretheexpectedparametersoftheneural networkmodels．Andthevalidityofthesemodelsisalsoverified． Keywords M ulti—chipmodule Interconnecttest Neuralnetwork Energyfunction 络 (ArtificialNeuralNetwork)应用于组合电路的测试 1 引 言 生成0以来 ，运用神经网络方法解决测试生成 问题成 为测试界较为活跃 的研究领域 。国内外 目前侧重于组 针对MCM (Multi—chipModule)多芯片组件体积 合电路和时序电路 的神经网络方法研究。 小、密度高，传统的物理接触式检测手段已经不能适应 本文把神经网络技术与MCM 互连测试相结合， 其测试要求，因此普遍采用边界扫描技术 (Boundary— 建立正确反映互连结构正常状态和故障状态逻辑关系 Scan) 对MCM进行互连故障的检测与诊断 。 的神经网络模型 。 以边界扫描技术为基础的互连故障测试生成系统 的核心是测试矢量的生成算法 。现有的一些经典算法 2 互连故障类型 包括：计数序列算法 (CSA) 、改 良的计数序列算法 (MCSA)0]、计数补偿算法 (countingandcomplement MCM 的互连故障一般可归结为以下几种类型： countingalgorithm)“]、w 步 自适应算法和 C步 自适 (1)固定型故障(s—a—l和s—a一0)； 应算法 等等 。这些算法或者测试诊断