论有限回溯测试模式产生方法.pdfVIP

曾芷德： 论有限同溯测试模式产生方法 论有限回溯测试模式产生方法’ 曾芷德 10073) (国防科技大学计算机系长沙4 鼻蔓奉史首先}}{析rFSTPG方往的实质，然后n．深八分析二三种ATPG系统的C-BflfI线妁耍验数据的肇础lt提出故障漠扭对测 FBTPG 试生成的综合调节效成理论，为FBTPG方法的有敏性提供J’理论依据．精后以IscA销5和|SCAS-89电路为草础，给出r 。j随机测试生成、确定性测试生成相崩用ATPG系统flextest的蜜验比较绡集，从而论让，FBTPG方法姓理超^=规模时序电瞎的 有教忭。 美键词有跟l川朔涮试模式旁生C-B函数曲线故障棱拟昀昝台调肯散心理论 Basedoftthe ofthecharacteristicsinFBTP6 C-B咖Vcsfromthreediffc悯t Ab矗raet pcil由砒i鸭硼晰sis andthethreeexperimental AIPG offatflt systems,帅n州global删嘣岵e融ttheo”7abouttheimfluence use run thetheorelicbeseto the of ISCAS-85c|rcaitsasabcnclunarLFBTPG．randomlest proveefficiencyFBTPG．Finally,wc Theresults aoommercialATPG sadcmn口琳theresults generator．．deterministict酬gencrolof,and system(flextest)t唧eftively prove 曲时i啦!阳me圩|odhsraech椰ci部cy幻l珊常卵akscqucetiajc枷拄 1． 引言 确定性测试生成(^胛o)算法已有四十年的发展历史，由于其计算复杂性是随电路的规 模和复杂性的增加呈指数膨胀的，目前已很难满足VLSI的应用需求。国外文献Ⅲ认为，对 于人时序电路，在高档工作站卜，ATPG系统的运行时间一般要以晕期计。根据我们的经验， 这个“犬”的含义应是万门量缓以上。我们曾用一个从国外引进的、号称目前世界上最先进 的ATPG软件系统处理用户提供的十J几万门的电路，在高档工作站上运行了一个星期．故障 覆盖率只有13％。看趋势已经再难提高。由此可见问题的严重性。 扫描设计能使此圃难趋于缓和，但它足以多占芯片噍i积、延迟增大、测试应用开销增加 为代价的，用户未必欢迎。再者．现有的DFT(可测性设计)上具由于对设计约束太多，在 高速电路设计中无法应用。例如卜述十几万门的电路，6000多个触发器中经扫描设计规则检 查确认只有10％可扫描。这就是说，为了插入扫描链，必须对90％的触发器设计进行修改， 用户怎么可能接受昵? 由此看来，想靠扫描设计简化对大规模时序电路的测试生成未必完全行得通。非扫描电 路的测试问题是回避不了的。近十年来，国内外学者已广泛展开了对非扫描时序电路测试生 成方法的研究。肯从并行算法入手的12。l：也有利用网表寄存器传输级描述的fIt”。这些都是 值得坚持的研究方向，但能否取得突破并使之适应大规模时序电路的复杂性，目前还难下结 论。 能否对传统的ATPG算法进行改造，使之适应大规模时序电路的需求昵?文献6对此进 行了探索，提出把确定性算法与随机测试生成方法动态结合起来的有限回溯测试模式产生方 法FBTPG，并在三万门左右的ASIC测试生成中证明了它的有效性。奉文将在文献6和7的 Benchmark为基础，对FBTPG方法与确定性测试生成算法和随机测试生成方法进行实验比 较研究。以证明FBTPG方法处