由SiO制备致密化SiC的研究.doc

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由SiO制备致密化SiC的研究 王魁汉 照井敏胜 井上博文 大森康男 (东北工学院)(日本东北大学选矿冶炼研究所) 摘要:本文探讨利用SiO制备致密化SiC试样的可能性。试验结果表明:当温度为1700一1800℃,采用化学气相沉积(CVD)法,经一定时间后,可以获得致密化的SiC试样。 一、前言 ????当前,有关新型陶瓷材料的开发与应用的研究十分活跃。由于陶瓷材料的断裂韧性低,强度值分散,因此,可靠性差,尤其是作为高温结构材料,其应用受到了限制。为了开发性能优越的陶瓷材料,人们正在致力于研究陶瓷复合材料及高密度材料。 ????SiC材料开始主要用作磨料磨具,目前,SiC作为新型耐热材料及耐高温熔体腐蚀的耐火材料,已引起人们的瞩目。但是,纯SiC粉末通常难以烧结,往往是靠添加硼化物等助熔剂促进烧结。由于助熔剂的存在,必然要降低SiC的使用温度。为此本研究不用助熔剂,探讨采用CVD法制备致密SiC的可能性。 ????关于SiC的制备,在工厂通常采用二氧化硅碳热还原法。在实验室用化学气相沉积(CVD)法合成。迄今为止尚未发现由固体SiO利用CVD法制备致密的SiC。 二、试验 2.1 SiC生成的可能性 本项研究之前,郑景瑞[3]在1900—2200℃范围内,曾探讨下列反应的动力学。 SiC(s)+C0(g)=SiO(g)+2C (s)(1) 平衡常数K值 ????而本项研究的化学反应方向与上述反应完全相反,为此,首先利用文献[4]中已有的公式进行热力学探讨,计算反应 SiO(g)+2C(s)=SiC(s)+C0(g) (2) 的平衡常数K: K=exp[(19660-O.90T)/1.986T] (3) 式中 T—热力学温度,K exp—指数函数 按上式计算的平衡常数K值见表1。 ????由表1看出,在1600—2000℃温度范围内,反应向右进行较完全,因此可以进行试验。同时还可以看出,反应温度越高,热力学条件越不利。然而,试验结果表明,反应温度越高,反应速度越快。说明在高温下动力学因素起主导作用。 温度,℃ 1600 1700 1800 1900 2000 1Gk k 5.7310 5.4*105 5.3672 2.3*105 5.0439 1.1*105 4.7546 5.7*104 4.4942 3.1*104 2.2 试验装置与试样 本试验装置为高温碳管炉 如图1所示。 1—SiO试样;2一石墨坩埚;3一石墨管;4一石墨发热体;5一Cu电极;6一比色高温计;7一Ar气入口;8一Ar气出口;9一石墨试样 图1 试验设备 ????将试样放入图l所示的试验设备内的石墨坩埚中(图1中2),石墨坩埚由石墨反应管支承(图1中3)。用比色高温计或红外辐射温度计测量试样温度。由于生成的SiO气体要沉积在窥视孔的石英玻璃上,影响透光率,因此,将氩气由反应管上部导入,以便减少在石英玻璃上的沉积物,并经常用装在坩埚底部的钨铼热电偶测量试样温度进行校准。试验用石墨试样有两种:块状石墨(长5、宽5,高5mm)重量为0.15g,杂质含量0.1%;片状石墨(长6、宽6、厚2mm),重量为0.12g。关于Si-O系中间相SiO,经x射线结构分析等多种确认其存在。本试验用固体SiO为日本和光纯药工业生产。 2.3 试验操作 ????在反应管内通氩气,将管内空气充分置换后送电,迅速将炉温升至预定温度(1600—2000℃),使固体SiO气化,并在高温下同石墨试样反应生成SiC。经过一定时间立即断电,取出试样称重。即SiC的生成量是通过测量石墨样块的增重来实现的。因炉温升降十分迅速(2—3min),因此,可忽略在升降温过程中生成的反应产物。对由CVD法生成的SiC试样.进行X射线结构分析、扫描电镜观察、电子及离子探针微区分析。 三、试验结果 3.1 SiO的气化速度 ????用称量法测量S O的气化速度。反应管内Ar气流量稳定在200m1/min,体系内总压始终保持为0.1MPa。当温度为1500℃、1600℃时,测量结果如图2所示。 1—160℃气化速度曲线 2—1500℃气化速度曲线 图2SiO的气化逮度 ????由图2可见试样温变对Si0气化速度影响很大。在相同时间内(30min),在1600℃下SiO的气化速度快,约为1500℃时的3倍。试验结果表明,固体SiO容易气化,其挥发速度可以满足化学气相沉积反应的需要。 3.2 石墨试样的选择 ????最初采用块状石墨试样(长5,宽5,高5 mm),沉积SiC后均出现裂纹,通过物相观察发现,该种块状石器试样内有粗大的柱状结晶。以后改用晶粒细小,组织致密的片状石墨试样,经多次试验均未出现裂纹,可满足化学气相沉积反应的需要。 3.3 SiC的生成速度 ????在1600—2000℃的温度范围内,固体Si

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