非参数统计方法在长期储存试验中的应用初探.pdfVIP

非参数统计方法在长期储存试验中的应用初探 刘建明廖小雄陈新苹 电子部五所(广州市1501信箱510610) 摘要：本文扼要介绍了把Kaplan-bleier疾病非参数统计理论 应用于军用少量样品的长期储存试验中的基本方法的步骤，在不作 · 寿命分布形式假定的前提下，仅从少量失效数来推断试样的可靠性 特征，并对不同环境下的试验结果．给出储存试验寿命是否有差异 的统计验证方法，这些方法均在计算机上给出数值分析结果。 1、引言 军用电子元器件、关键部件和材料的长期储存试验，需在不同环境应力、严 酷等级的试验场站进行．由于非工作试验应力低于工作应力，因而长期储存试验 中元器件的失效率较低，试验周期长，而且许多关键军用部件由于价格昂贵，各 试验站投样不可能很大，这样要从失效数来推断绪存寿命分布形式很困难。以往 电子设备及元器件的非工作储存可靠性分析一般都假定失效率是常数(蕴含指数 寿命分布条件)，然而，常见的指数型寿命分布是否适用于储存期间的元器件寿 命描述，对各种生产形式的试验样品都成立则是个疑问。本文试图摆脱寿命分布 形式的束缚，从非参数统计理论出发，利用非参数估计具有较强稳健性(对分布 形式的依赖性不强)的优点。仅从少量失效数来推断储存样品的可靠性特征量， 并对不同试验区域的同种类样品的试验结果(如温带于冷气候试验站与热带海洋 性气候试验站的不同试验结果)，给出储存试验寿命是否有差异的统计验证方法。 这些方法均在计算机上给出数值统计分析结果。 ——————————————1i—诵币百丽亍可可瓦订丁汀万i-～～…一一一 设tt，tz，…，t。是独立同分布试样的检测时间，可靠度R(t)代表储存时间t 后仍完好的成功概率，则其估计量为 R(t)一储存时间t后仍完好的试样个数／试样总数 重新对t。、t：、…、t。排序，得 t‘I)≤tQ)≤…≤tcn)． tm时的可靠度R(t)可被估计为 诋，)=等小i 如果两个或以上的试样在tul时测量判定为失效，则使用最大(i)，如果to， 。t 0)2t“，则 ‰，)=‰)=‰，)=竿 152· 对测量判决时间t¨时全部试样失效的特殊情况。有 ^， 、 ^， 、 和 2l R【f(0))-1 R‰J 在长期贮存试验中，失效样品总是占全部样品的--d部分，根据Kaplan— Meier疾病非参数统计理论．有 R(t。)=P(样品在t一内未失效) R(t。)=P(样品在tt。，内未失效) =P(样品在t一内未失效)×P(样品在t。：，一t。内未失 效／样品在t。内未失效) 根据这个原则．可归纳出如下的估计式 ^ R(k、=P．×JP：X…X尸| (k≥2) (1) 这里．P。代表样品在tm内未失效的比例； Pz代表样品在tm内未失效的情况下，tm—tm期间未失效的比例； P3代表样品在tcz，内未失效的情况下。t{，，一tm期问未失效的比例： Pt代表样品在tt“，内未失效的情况下，