闪烁体发光效率的温度效应测定.pdfVIP

第9届全国核电子学与校探测技术学术年会论文集 ．名：p of怕9lh№lIonaI Proceedings co『I觚脯佣NlIcI鲫EI劬∞b＆N岫Del鲫嘶。抽由耐蝌： 舯1七黔谪襟傣爰筅囊濞髓爱效葭巍囔瓣襞篡冀墓 术龇州粼_删冀：灞藩鹣三脚蠢戳鞲蒜蔑孵i茎嚣兰萎菩≥ 应·而不考虑光电倍堵警镯硬教盛妁贯觎．实验中，在瑗燮腩律盛壤的过程中澈光电倍增管 保持恒温． 皋舂兰：0意守兜夺如’，暂 F 辩毛舒震嘲凌垫项蝴糙遮辍黼持续葶连粕蹲耋l ! 酶建毽ja笨错觉交誉芭稷辞并燕立了 一套测定闪烁体发光效率温度效应的装置，从70年代起，经多筚逶奔爰举磷趣霞避溉晟警 Halt¨ i盟种瑚琳悸、也l【llJ、俚 教掣 H烁俸思旱曲及蛐 AgJ岢多柙州霹俘厦， 陡应的测量，累积了大量实验数指I． 黻已零散发表过部分实验结果的基础上，i 景题作一系统的概要总结．尽管作者l有大量 玛对比方案的实验结果．也深知该类I 目对闪烁体发光效率温度效应感； 《趣滑行nI是极具参考价值的，然而．本文仍仅j 艮用的实验方案，及相应的代表世测|结果． 定中首次对测量结果的误差全面进行 实验装置Ⅲ l IO￡ ； 全部装置包括高低温探头、疆 度i涮系统 ．温度监测系统与相对发光效率测量j 子．实验装置示意图示于图1． Oe【 ：．1探头 l i _ 闪援舔漱粕曲嘣惘夤脚叫 光电倍嗜管组敞．尽管在多数场合下，光导6 誓闪烁体避苎搴毡踺趔堡《智塑垄髅温度的变化曷羁辑愈≈杰憨驴霉番用光导．光导为 捣基卿驽嚼瑚觥慧莓蔼辩闪烁体和光电倍增管之间，周围填充绝热材料．光电倍增管四 周用铜管通冷却水，以保持其温度的恒定．实验结果表明，光导长度选100∞较宜．它巳能较 好地隔断闪烁体与光电倍增管间温度的相互影响，同时又不致于使传输系数太小．光导直径 硪 38mm，用”7cs7激发NaI T1 测得的光传输系 数为26％． 2．2温度控制系统 ＼ r．—＼． 2．2．1低温采用两级半导体致冷器．温度 吐剿l 调节范围为一40℃至室温，致冷器制戚环状， 刭烀巨 闪烁体置于其内．致冷器加致冷盖板，以改善 三马E三 闪烁体致冷效果． 半导体致冷器的温度用整流电源供电．电 流越大，温度越低．本装置用低压太电流整流 电源控制半导体致冷器温度．测量的lomh 内，温度漂移极差士o．5℃．本装置配用的致冷 西 器允许的最大电流为22A．若通以反向电流， 致冷器可作为加热器，最高温度不超过60℃． —占—b I卜一 半导体致冷器用流水继电器控制．其由75 ～l型电子继电垫与水流开关组成．只有当致 田1内烁体发光效率盘度效应装置爵 冷器冷却水赢通，并达到一定的预定流量时， 致冷器供电电源才接通．这样可以保护半导体致冷器工作时不会因冷却水不足或中断而损坏． 2．2．2高温采用自制镍铬丝加热器，也配有加热炉丝上盖以 改善加热效果 图2 ． 温度控制用自材可控硅温度控制器实蓝．控制范日t室温至 150℃． 加热器上盖槽内也绕有电炉丝。用水玻璃覆盖．上盖电炉丝 与加热妒炉丝为相连结的同一根炉丝．更换闪烁体样品时。掀开 上羞用橡皮吸子吸出． 加热器结构示童图 加热炉是用镶铬电炉丝绕在铝 架上制成．温度控制用茸棚温度控棚 器实施．此温度控制器线路由包括热 敏电阻、调节温度刻度的电位器及另 ．’嘏 外两个电阻组成的桥式电路，和两级‘。。。 H 放大器，单稳态触发电路组成．温度 的微小变化引起热敏电阻阻值变化， 产生讯号经过放大触发继电器，使加 热炉丝通电或断电，从而使温度达到 平衡．温度控制器线路图示于图3． i R-为热t电阻L为抽热量 H≤ 2．3温度监测系统 图3扭度控制线路酉 采用镍铬丝一考铜热电偶与 uJ31型电位差计以及Ac9／l窭检流计配用进行监测．热电偶的一端放在温度控制器内侧的 孔内，另一端放在冰水混合物中以获得该端的o℃对比温度．温度监测系统示意图示于图4． 2．4测量系统 197 本装置采用脉冲 幅度 法对闪烁体的发光效率进 行测定．闪烁探头选用英国产EMl6097s型光电倍增 管，采用负高压供电，其分压器及阳极输出回路原理图 示于图5．光电倍增管阳极经隔直电容取出信号，由放大 器放大成形后输给256道脉冲幅度分析器分析、记录． 3装置的技术指标 图4量度监测系统框图 3．1探头与测量系统的稳定性 闪烁体发光效率的温度效应的澍 量，所需测量时间较长，一般为16h，有 时需要连续工作达40h之久．因此，要求 测量装置应具有极好的长时间工作稳定 性．本工作采用常温条件下，测量用m＆ 7源激发N8I T1 闪烁体光电峰位置的 方法，监测系统的稳定性．测量时。模拟 实际测量的脉冲幅度分布谱