X光衍射中积分强度近似公式.pdfVIP

第 23卷第 12期 大 学 物 理 VO1．23NO．12 2004年 12月 C0LLEGE PHYSICS DeC．2004 X光衍射 中积分强度的近似公式 罗来龙 (武汉理工大学 理学院，湖北 武汉 430063) 摘要：用 x射线衍射仪做定量分析衍射实验时会因盖革记数器的死时间而出现漏计现象 ．为 了简便地测定死时 间，本文 提出了单层膜两次照射技术 ，导 出了校正积分强度的近似公式 ，并与逐次校正法作了对 比分析． 关键词 ：x射线 ；衍射 ；死时间；积分强度 中图分类号：O436 文献标识码：A 文章编号：1000．0712(2004)12—0049—02 在X光衍射的物相定量分析中，X射线衍射仪 M 1 M 2 优 1 优 2 ． ． 因其速度快 ，强度相对精确 ，信息量大，分析简便而 1一rM 1 1一rM 2 1一r优 l 1一r，，2 被广泛应用 但是这种系统在定量分析时都要对盖 从上式解 出死时间 革记数器的死时间(计数器在两次脉冲之间的时间 r=优l2(M1—M子2)一等MlM2(”2l一优2)、(2) 是计数器的不灵敏时间，称为记数器的死时间)进行 修正 通常测量记录死时间用的是多层箔方法，其缺 本文所用的仪器是 日本理学D一1型X光衍射 点是箔的厚度不匀且不易测准…．为了克服这个缺 仪，所用 的电压为 35kV，Ni滤片及多晶 Si的 3ll 谱线两次单色光，取管流 3mA为弱光 ，管流 10n1A 点 ，本文提出了新的单层箔两次照射技术，能简便地 为强光 ，用 Ni箔作为吸收片．测得盖革记数器记录 测定死时间 r，从而校正X光衍射积分强度 校正积 系统的死时间 r=5．00×10～S 分强度的通用方法是逐次校正法 ，此法相当繁琐 ，面 对大量物相定量分析实验 ，需逐点校正而消耗太多 2 衍射积分强度的校正 时间，为此本文提出了一个可以替代逐点校正方法 在一定的实验条件下 ，设从单位时间的计数转 的近似公式 ，用这个公式计算 的结果与逐点校正的 换为记录纸上的小格数的转换常数为 卢(卢乘 以小 结果相当吻合，完全可以满足精确定量分析的要求 格数等于计数率)，由式 (1)可知 下面就上述两种改进加以介绍． 1 单层箔两次照射方法 pho- 即 由于盖革计数器的死时间较长，因此在高强度 h ， 计数情况下 ，漏计现象不能忽略不计．设 为单位 一 时间内真正进入计数管的X射线光子数． 为单位