X射线TICT中射束硬化拟合校正研究.pdfVIP

维普资讯 第33卷第 11期 光电工程 Vo1．33．No．11 2006年 11月 Opto-ElectronicEngineering NOv 2006 文章编号：1003—501X(2006)1卜0l37—05 X射线TICT中射束硬化拟合校正研究 彭光含 ，杨学恒 ，韩 忠3，周 日峰4，蔡新华 ，乔闹生 (1．湖南文理学院 物电系，湖南 常德 415000；2．重庆大学 自动化学院，重庆 400030； 3．重庆大学 数理学院，重庆 400030；4．重庆大学 ICT中心，重庆 400030) 摘要：x射线TICT中，由于射线硬化现象使图像重建时出现伪影。文中对 x射线硬化现象进行 了分析，探讨了在均匀物质中，x射线射束和与透射厚度的关系，并根据 Beer定律和x射线与 物质作用的特点，通过获取x射线射束和数据，首先拟合出射束和与透射厚度的关系式，然后得 出x射线射束和校正为单色射线射束和的等效厚度与透射厚度的关系及其等效方法，最终得出x 射线等效单色射线的衰减系数的拟合值，再对此衰减系数拟合值进行卷积反投影重构，即可有效 消除x射线射束硬化的影响。 关键词：x射线；计算机断层扫描成像技术；射束硬化；拟合校正；射束和 中图分类号：TP39l 文献标识码：A Beam hardeningfittingcorrectionmethodforX—rayTICT PENGGuang．hanI2，YANGXue．heng3，HANZhong， ZHOURi-feng，CAIXin—hua，‘QIAONao—sheng‘ (1_DepartmentofPhy．andElectr，HunanUniversityofArtsandScience，Changde415000，China； 2．CollegeofAutomation，ChongqingUniversiyt,Chongqing400030，China； 3．CollegeofScience，ChongqingUniversiyt，Chongqing400030，China； 4．ICTCenter，ChongqingUniversiyt，Chongqing400030，China) Abstract：ThebeamhardeningwillresultinartifactasreconstructionimageinX—ray(TICT)．Inthe paper，weanalyzethephenomenonofX-rayBeam hardening，anddiscusstherelationbetweenthe X-raybeam sum andthetransmission thickness．Basedonthe law ofBeerandthecharacteristicsof X-rayinternalmaterial，therelationequationbetweenbeam sum andtransmissionthicknessissimulated bygettingthedataofX—raybeam sum．Then，therelationandtheequivalentmethodarecarriedout betweentheequivalentthicknessandthetransmissionthicknessforX-raybeam sum beingcorrectedofr monochromaticray beam．Atlast，theattenuationcoefficientsimulatedvalueofrX