分光光度测色仪中双光路d%2f0结构的改进.pdfVIP

第39卷第 l1期 光电工程 Vo1．39，No．11 2012年 11月 Opto-ElectronicEngineering Nov,2012 文章编号：1003—501X(2012)11—0134—04 分光光度测色仪中双光路 d／0结构的改进 王 聪，金 尚忠，袁 琨 (中国计量学院 光学与电子科技学院，杭州 310018) 摘要：在分光光度测色仪的双光路 d／O结构设计中，通常采用积分球内壁作为参考点来消除光源波动对仪器重复 性产生的影响。但是在这种情况下，参考信号在一定程度上会受到测试样品的漫反射光的干扰，仪器的重复性和 准确性也随之降低。本文设计了一种改进的d／O测量结构，采用LED复合光源作为测试光源，在参考光路设置单 独的参考白壁，而不再将积分球内壁作为参考点，并建立实验进行验证。实验结果表明，改进的光路结构可以有 效的消除被测试样品的漫反射光对参考光路信号的影响。 关键词：双光路；分光光度测色；d／0测量条件；LED；积分球 中图分类号：0433．1 文献标志码：A doi：10．3969~．issn．1003-501X．2012．11．021 ImprovementofDual—opticalPathd／OConditiononSpectrophotometer W ANG Cong，JIN Shang-zhong，YUAN Kun (CollegeofOpticalandElectronicTechnology，ChinaJiliangUniversity，Hangzhou310018，China) Abstract：Inordertoeliminatetheerrorsresultingfrom fluctuationoflightsource，theinnersurfaceofintegratingsphere isselectedasreferencein design Ofdual-opticalpath d／0 measuring condition on spectrophotometer．However,the repeatabilityandaccuracyofmeasurementwilldecreasetoacertain dergeebecauseofinterferencebydiffusereflected lightofthetestsample．Thispaperimproveshtedual—opticalpathd／0measuringcondition，compositesLED astestlight source，and configuresa separated referenced whiteboard substitute forinnersurface ofintegratingspherein the referenceopticalpath．Then，theexperimentisestablished．Theresultsindicatehtatthisimproveddual—opticalpathd／0 measuringconditioncouldeffectivelyrevisetheerrorscausedbydiuff sereflectedlightoftestsample． Keywords：dual-opticalpath；spectroph0tometer；d／0condition；LED；intergatingsphere 0 引 言 分光测色仪在包括纺织，染料，印染，涂料，油漆，造纸，建材，食品，印刷等行业都有广泛的应用。 目前市场上多数分光光度测色仪器都采用积分球漫射照明／垂直方向检N (d／O)的照明观测条件。为了保证仪 器的光源光谱与太阳光(D65)光谱相匹配，大多数分光光度测色仪都采用脉冲氙灯作为光源 。在测量的过程 中，脉冲氙灯每次点亮时的光