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第za卷第t期增刊 一堡塑堡塞兰旦——一——!!竺!兰旦
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BIST可测性设计的低功耗技术
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(沈阳化工学院信息工程学院 沈阳 3(中科院沈阳自动化研究所沈阳
摘要在BIST测试过程中，测试电路的加入使得数字系统的功耗明显加大，低功耗的BIST设计得到人们的广泛关注。本文
介绍几种B1ST的低功耗设计技术，各种方法的综合应用会使系统的功耗指标达到最佳。
关键词内建自检测片上系统可测性低功耗故障覆盖率
LowPower ofBIST
TestabilityDesign
Technology
Li Xin
WangYin91’2 Xiaoning‘’2
Jinfen91
InstituteofChemical 110142，China)
(InformationEngineeringSchool，Shenyang Technology，Shenyang
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InstituteofAutomation，Chinese
2(Shenyang AcademySciences，Shenyang
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