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谢波等：CMOS组合电路开路故障的内建自测试方法 CMOS组合电路开路故障的内建自测试方法 谢泣黄堆康唐璞山 (复旦大学专用集成电路与系统圈家重点实验室上海200433) 摘要：本文对C／VlOS组合电路开路故障的溅试进行了探讨。针对开路故障的特征。首先提出了一种采用跳 变次数进行响应分析的BIST方法。在该方法中．激励源产生特定的测试序列施加给被测电路，通过对电路 输出值的跳变次数进行计数．再与无故障电路辘出的跳变次数的期望值进行比较，从而可以检测到电路中是 否存在开路故障，对于有n输入端的电路完成测试需要6×20个测试矢量。文中进一步提出了一种基于MISR (多输入移位寄存器)的响应分析的内建自测试方法，在对多开路故障进行测试的同时考虑到对固定型故障 模型的测试。在该方法中可以用4X24个测试矢量同时完成对多开路故障和多固定型故障的有效测试。 关键词：内建自测试开路故障组合电路 一一 一、刖舌 在CMOS组合电路的测试中，通常考虑的故障模型是固定型(s．a-0和s-a．1)故障模型。 faults)和开路 但是并非所有的故障都可以通过这种故障模型来进行等效。桥接故障(bridge 故障(stuck-openfaults)等面向缺陷的常见故障就是固定型故障模型不能完全等效的。要想提 高芯片的故障覆盖率，对这些故障的测试也显得尤为重要…。对于CMOS组合电路的开路故 障的测试，以前的很大部分工作都集中在测试序列的产生上面。研究发现ol，基于单位改变输 入对(即两个相邻的测试矢量间汉明距离为1)的测试矢量集对CMOS组合电路开路故障的 测试非常有效。对于有n个输入端的电路，存在n×20个单位改变输入对。在文献【3】中提出 了用2n×20个测试时钟周期产生所有单位改变输入对的测试图形生成方法：文献【4】和【5】中的 机都比较复杂，并且只能检测单开路故障或无方向的多开路故障(即开路故障不同时出现在 法检测。在【7】中提出了一种基于电路结构修改的开路故障测试方法，但是并没有在开路故障 测试的同时考虑到固定型故障的测试。 使用内建自测试是St3(2测试的重要途径”’，合理选择BIST技术能够很大程度上缓解对 测试设各越来越高的要求而导致的测试成本的急剧攀升．从而使总的成本最小化。本文提出 两种针对CMOS组合电路开路故障的BIST方案，能用较少的测试矢量和面积开销完成对开 路故障的测试。 二、开路故障的特征及电路结构的修改 这里首先提出CMOs组合电路开路故障的两个重要特性。 性质一：对于任意一个n输入CMos组台电路，如果存在开路故障．则在所有的24个输入矢 量中必定存在一个或多个测试矢量，使得电路在这些测试矢量的激励下输出端处于 浮空状态，即此时电路输出端到电源和地之间都不存在通路。 性质二：对于一个存在开路故障的CMOS组合电路，在某些测试矢量的激励下．如果表现为 浮空的状态，则电路的输出由于没有与电源及地形成通路，因此电路的输出值将不 会发生改变，即电路的输出值在开路故障被激活时将跟随上一次电路的输出值。 ‘奉文获得话象包然科学基金礓目eAY207002的瓷助。 Ⅶ～39l 谢波等：cMOS组合电路开路故障的内建自测试方法 性质一说明了对于一个存在开路故障的电路，在某些测试矢量的激励下电路输出端将处 于浮空状态(并非任何测试矢量都能使输出处于浮空状态)，而这种输出端浮空的状态在正常 的电路中是不允许出现的，因此对开路故障进行测试的实质就是探测电路在所有的28个(对 于有n输入被测电路)测试矢量的激励下是否会出现这样的浮空状态。而要探测到浮空状态 的存在，就必须把浮空状态和电路的正常状态的不同特征表现出来，并且能够把这种差异反 映到输出端。但是根据性质二，如果电路在某一测试矢量下体现为浮空状态，其输出状态并 不一定和正常状态不同。因为电路处于浮空状态只是导致电路的输出端电位跟随上一个测试 矢量下的输出值；如果上一个测试矢量下的输出值和当前测试矢量下的期望输出值是一样的， 这样正确电路的输出值和有开路故障电路的输出值相同，从而无法区分是否发生了开路教障， 这也是组合电路开路故障测试的难点所在。