Co掺杂对BST薄膜介电性能的影响.pdfVIP

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Co掺杂对BST薄膜介电性能的影响.pdf

维普资讯 第 11期 电 子 元 件 与 材 料 、b1.24N0.1l 2005年 11月 ELECTRONICCOMPONENTS&MATERIALS NOV.2005 Co掺杂对BST薄膜介电性能的影响 高丽娜,杨晓静,张良莹,姚 熹 (同济大学功能材料研究所,上海 200092) 摘要:用sol-gel法在 PtT/i/SiO2/Si(100)~底上制备了掺Co的钛酸锶钡 (BST)薄膜,研究了co的掺杂量x(Co) 对BST薄膜的晶相结构和电学性能的影响。结果表明:随着 (co)的增加,BST薄膜的介电常数 ,介质损耗 tg6和 漏电流密度九均降低;当 (co)为5%nj,BST薄膜的 tg6,九、可调性和品质因子分别为:228.3、0.013、3.69x10- A/cm 、 15.4% ,12.03。 关键词:无机非金属材料;BST薄膜;Co掺杂;soI唱eI法;介电性质;可调性 中图分类号:TM384 文献标识码:A 文章编号:1001.2028(2005)11-0049.03 InfluenceofCoDopingonthePropertiesofBSTThinFilm GAOLi-na,YANGXiao-jing,ZHANGLiang-ying,YAOXi (FunctionalMaterialsResearchLaboratory,TongjiUniversity,Shanghai 200092,China) Abstract:Co—dopedbarium strontium titanate(BST)thinfilmswerepreparedbysol-gelmethodonaplatinum—coated siliconsubstrate.ThestructureandelectricpropertieseffectedbyCo.dopedwereinvestigated.Theresultsoftheresearchshow thatasthecontentofCo.dopedincreasing,thedielectricconstantanddielectriclOSSoftheBSTthinfilmreduce.Asx(Co) reaches5%,thedielectricconstant,dielectriclOSS,tunability,leakagecurrentdensityandthevalueofQare228.3、0.0l3、 3.69x10-A/cm (at10V)、l5-4% (at200kV/cm)、1203,respectively Keywords:inorganicflOfl·m·etallicmaterials;BSTthinfilm;Cod··oped;sol·g·elmethod;dielectricproperties;tunability 近年来,BST铁电薄膜因其具有优 良的介电性能 物 为 乙酸 钡 [Ba(CH3coo)2,分 析 纯 】、 乙酸 锶 而被广泛的应用于存储器,红外探测器及其他器件, [Sr(CH3coo)2,分析纯】,乙酸钻 [Co(CH3COO)2,分 其制备工艺和介 电性能受到了广泛的研究 l【J。BST 析纯】,钛酸四丁~[Ti(OC4H9)4,化学纯】,溶剂和螯 铁电薄膜具有高的可调性以及低的介质损耗,

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