微带测试夹具的TOSD校准方法.pdfVIP

第2l卷第4期 桂林电子工业学院学报 VoI21，No．4 oFGUⅡ．ININSTITUTEoFELECTRONICTECHNOLoGY Dec．2001 200】年lz月 JoURNAL 微带测试夹具的TOSD校准方法 李红1，李思敏2 (1，桂林电子工业学院通信与信息工程系，广西桂林541004 2．桂林电子工业学院电子工程未，广西桂林5{】004) 摘要：通过研究微带测试夹具及其微带传输线对测量s参数的影响及校准方法，蛤出了用TosD (thru，open，shofldelay)方法进行校准的步骤．并基于误差模型进行了数值仿真，得到丁比较准确的校 准结果，证明该方法对校准徽带测试夹具是有效的．对方程的奇异性进行了研究，并提出了解决方法。 关键调：校准；TOSD方法；s参数测量；仿真 1o_04 中翻分类号：TN817 文献标识码；A 文章编号：100l一7437(z001)04 引言 本文在TsD方法‘”的基础上提出了一种TOsD 在对微带元器件进行测量的时候，要使用特殊的 准，给出了校准步骤，并用文献[1]的方法去除相位的 同轴～微带的测试夹具(见图1)；当使用矢量网络分 不确定性，最后进行了仿真和结果分析。 析仪进行测量时，测量面是位于同轴接口处的，这样 得到的测量s参数实际上包括了同轴一微带接头以 1误差模型 及夹具中微带传输线的影响，而实际测量面应该位于 被测件的输入和输出端。要得到被测件S参数的真 测试夹具和传输线模型可用两个误差网络来表 实值，就必须去除这些误差的影响。在这方面已进行 示(见图2)，根据信号流图，得到误差网络、被测件和 测量S参数之间的关系如下： 了很多的研究[113]，如TSO，TsM，ToM方法，这些 方法大多是使用同轴标准进行校准，没有涉及微带传 S胁1=S^Il+ 输线；而对于檄带天线等要使用微带馈电的结构，馈 鲨蓝曲蔓出掣鱼画量趟』辽业(1) 线对测量相位是有很大影响的，所以应使用微带标准 进行扳准，另外微带的匹配标准难以实现，所以需要 ‰：毕 (2) 引入非匹配标准。 50n镄带传输线 s旷选擎 (3) Sm2=S觇z+ j赵丝吐b逾≮生鲨也n函鱼(4) 为去除相位的不确定性叫，把方程组改写为： (5) 同轴一微带转换接叉 同轴一微带转挟接头 2=0 (6) S^275】2S加1一△^S12一^5胁2+^SBllSz?5M1 圉1同轴一微带测试夹具 L (7) zo 收稿日期200、08 6 基金项目：电