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基于全微分法解平面尺寸链及孔系坐标公差的计算通式.pdf
+ + 设计 ·研究·分析 ·#( ·
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基于全微分法解平面尺寸链及孔系坐标公差的计算通式
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王维模 ,蔡贵溪 ,刘持平 ,刘洪
(!* 贵州大学机械工程及自动化学院,贵州+ 贵阳+ ’’, ;#* 贵州省机电研究设计院,贵州+ 贵阳+ ’’, )
摘要:在工艺尺寸链中,平面尺寸链较为繁杂,在箱体孔系、斜孔加工及装配工艺中常需解算。本文以微分学原理对尺寸公
差进行系统处理,不仅简化了分析计算,而且由于同时考虑了常被忽略的角度误差,极大的提高了计算的精确性和合理性,
并由此首次推导出孔系坐标公差的极值法公式和概率法公式,极大的方便了机制工艺人员的工艺工装设计。
关键词:全微分+ 平面尺寸链+ 坐标公差+ 角度误差
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B(C D+/.* ::9332;374 :9;21/9017 6591 ;18A7= :2F94901 ;600=:9142 4072=162
G E G 推算步骤如下
EF 问题的提出
!)根据零件设计要求和工艺方案,按最短路线原则建立
在尺寸链的分类中,具有直线尺寸和角度尺寸组合,且处 尺寸链图。
于同一平面或平行平面尺寸链,称为平面尺寸链。由于有角 # )将已知的各环尺寸(包括直线尺寸和角度尺寸)化为
度的存在,增加了计算的复杂性。通常的解法是将各尺寸 上下偏差对称分布的平均尺寸。
(称为环)投影到某一方向上,转化为线性尺寸链求解。这种
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