现代化学分析原理与技术AAS.ppt

* * （2）价态 （3）掩蔽剂 （4）还原剂的浓度及加入量 （5）载气流量 （6）原子化温度 （7）（氢化物发生）反应温度 Sn As Bi Se Te Pb Sb 温度升高灵敏度 升高 升高 升高 降低 降低 降低 无变化 最佳温度℃ 40 40 40 0 0 30 无变化 * * 应用扩展 ?? 氢化物发生法在扩展元素应用范围的同时，采用控制酸度选择性的形成氢化物方法，还可用于形态分析。 如控制酸度可分别测定不同价态的锑； ????A.G.Howard等将此法用于无机砷Ⅴ和甲基 和甲基胂,二甲基胂等测定； ????1989年Cacho更将此法推广用于挥发性镉化合物的测定 ????至今，氢化物发生法不仅已发展成为原子吸收分析法的一个重要分支，为AAS的气体进样技术开拓了应用前景。而且成为原子荧光分析的重要分析技术手段－AFS分析技术。 * * 低温原子化方法； 主要应用于：各种试样中Hg元素的测量； 原理： 将试样中的汞离子用SnCl2或盐酸羟胺完全还原为金属汞后，用气流将汞蒸气带入具有石英窗的气体测量管中进行吸光度测量。 特点：常温测量； 灵敏度、准确度较高（可达10-8g汞）； 　　　　　 * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * これはCd分析線とその近傍のNiの分析線を示しています。波長範囲は約1nmで、通常のスリット幅に相当します。 Cdの波長の近傍に、Niの吸収線がいくつか存在しています。 * * 塞曼效应：在磁场作用下简并的谱线发生分裂的现象 将磁场加到原子化器上，磁场方向与光束垂直，观测到横效应，吸收线分裂成π成分和σ±成分，π成分方向与磁场平行，波长不变； σ±成分与磁场垂直，波长产生±Δλ的位移。光源辐射非偏振光，通过起偏器生成只有与磁场平行和垂直的偏振光。平行于磁场的偏振光通过时产生原子吸收和背景吸收; 垂直光通过时，由于与π成分垂直，不产生吸收，与σ±成分有波长差±Δλ，不产生原子吸收信号，但可以产生背景吸收信号，二者之差即为原子吸收信号。 （2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法 * * 磁场在光源上的称为光源调制或直接塞曼，加在原子化器上的称为吸收线调制或倒塞曼 磁场方向与光束方向垂直称为横向塞曼调制，与光束方向平行称为纵向塞曼调制。 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰(石墨炉）时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰（石墨炉）时，只产生背景吸收； 见下页图示： 方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。 * * * * 其主要类型为： * * 磁场调制塞曼背景校正方法，是利用磁场不存在时，对空芯阴极灯共振辐射的吸收测量AA＋BG，有磁场存在时测量BG。磁场的接通与断开不可能同时进行，只能先后实现。 两次测量的时间差为背景校正带来误差，这是影响正确校正背景的主要因素之一。早期双通道（双单色器）商品原子吸收光谱仪器已能实现一次测量完成背景校正（即双波长背景校正法），但这种背景校正的效果较差，已被市场淘汰。 Z2000（日立） 型双检测器偏振塞曼原子吸收分光光度计，采用一次测量背景校正方法,已成功用于商品仪器中。 * * 偏振塞曼调制双检测元件背景校正法 偏振调制塞曼背景校正法能同时满足上述三个前提条件，其光源的辐射光束（各个方向的偏振光成分，包括与π成分方向一致的 Ｐ ‖和与σ成分方向一致的Ｐ⊥）　通过原子化器及分光系统后，并由Wollaston偏光元件分裂为偏振方向相互垂直的两束光，即 Ｐ ‖与 Ｐ ⊥，同时测定线吸收和背景吸收。Z2000型（日立）偏振塞曼原子吸收分光光度计商品仪器就首先实现了这项技术。 * * 上图为其光路示意图，空芯阴极灯发射的某一元素分析波长的共振辐射光束，经过恒定磁场原子化器系统、单色器分光后，由出射狭缝，经偏光元件Wollaston 棱镜变成为偏振方向互相垂直两束光Ｐ ‖与Ｐ ⊥，再经两面反射镜使其各自到达相应的光电倍增。 * * 塞曼效应校正背景的特点： 优点：1)校正能力强（可校正背景～3.0 A ）； 2)可校正波长范围宽：190 ～ 900nm ； 3)可以消除邻近光谱线的干扰； 4)相当于双光束仪器，基线稳定。 缺点：1) 使用偏振器，光能量有损失； 2) 反常塞曼分裂或存在精细结构时，灵敏度有损失。