DC参数测试.doc

.DC参数测试 ? 本章节我们来说说DC参数测试，大致有以下内容， ??? ????????? 欧姆定律等基础知识 ??? ????????? DC测试的各种方法 ??? ????????? 各种DC测试的实现 ??? ????????? 各类测试方法的优缺点 ?基本术语 ?????? 在大家看DC测试部分之前，有几个术语大家还是应该知道的，如下： ??????? Hot Switching???????????热切换，即我们常说的带电操作，在这里和relay（继电器）有 ??????????????????????????关，指在有电流的情况下断开relay或闭合relay的瞬间就有电流 ????????????????????????? 流过（如：闭合前relay两端的电位不等）。热切换会减少relay ?????????????????????????????????????????????的使用寿命，甚至直接损坏relay，好的程序应避免使用热切换。 ? ????????Latch-up???????????????????闩锁效应，由于在信号、电源或地等管脚上施加了错误的电压， ??????????????????????????在CMOS器件内部引起了大电流，造成局部电路受损甚至烧毁， ????????????????????????? 导致器件寿命缩短或潜在失效等灾难性的后果。 ?Binning ?????? Binning（我很苦恼这玩意汉语怎么说——译者）是一个按照芯片测试结果进行自动分类的过程。在测试程序中，通常有两种Binning的方式——hard binning和soft binning. Hard binning控制物理硬件实体（如机械手）将测试后的芯片放到实际的位置中去，这些位置通常放着包装管或者托盘。Soft binning控制软件计数器记录良品的种类和不良品的类型，便于测试中确定芯片的失效类别。Hard binning的数目受到外部自动设备的制约，而Soft binning的数目原则上没有限制。下面是一个Binning的例子： ?????? Bin#??????????????????????????????????? 类别 01?????????????????????????????????????????????????????????????? 100MHz下良品 02?????????????????????????????????????????????????????????????? 75MHz下良品 10?????????????????????????????????????????????????????????????? Open-Short测试不良品 11?????????????????????????????????????????????????????????????? 整体IDD测试不良品 12?????????????????????????????????????????????????????????????? 整体功能测试不良品 13?????????????????????????????????????????????????????????????? 75MHz功能测试不良品 14?????????????????????????????????????????????????????????????? 功能测试VIL/VIH不良品 15?????????????????????????????????????????????????????????????? DC测试VOL/VOH不良品 16?????????????????????????????????????????????????????????????? 动态/静态IDD测试不良品 17?????????????????????????????????????????????????????????????? IIL/IIH漏电流测试不良品 ? 从上面简单的例子中我们可以看到，Hard bin 0，Soft bin 01-02是良品，是我们常说的GoodBin；而Hard bin 1,Soft bin 10-17是不良品，也就是我们常说的FailedBin。 测试程序必须通过硬件接口提供必要的Binning信息给handler，当handler接收到一个器件的测试结果，它会去判读其Binning的信息，根据信息将器件放置到相应位置的托盘或管带中。 第四章.DC参数测试（2） ? ?Program Fl