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第三章 器件 MOS管的静态特性:漏端感应端势垒降低 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:热载流子效应 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:CMOS闩锁效应 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:工艺偏差 原因:1)、由于淀积或杂质扩散期间的不均匀引起工艺参数不同,导致薄层电阻以及阈值电压的变异。2)、器件尺寸上的变化造成W/L或互连线的偏差。 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小理想的按比例缩小理论:1、全比例缩小;2、恒压缩小;3、一般化缩小。 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小全比例缩小理论:1、器件所有的横向和纵向尺寸缩小N倍 ;2、阈值电压和电源电压缩小N倍;3、所有的掺杂浓度增加N倍。 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小恒压缩小理论:1、器件所有的横向和纵向尺寸缩小N倍 ;2、阈值电压和电源电压不变;3、所有的掺杂浓度增加N的平方倍。 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小一般化比例缩小理论:1、器件所有的横向和纵向尺寸缩小S倍 ;2、阈值电压和电源电压缩小U倍;3、所有的掺杂浓度增加S的平方倍。 * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小理想的按比例缩小理论: * 第三章 器件 综述: 工艺尺寸缩小 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 * 第三章 器件 path_delay=(0.50+1.0+0.54+0.32+0.66+0.23+0.43+0.25)=3.93ns * 第三章 器件 主要内容:1)、二极管的参数与静态、动态特性;2)、MOS管的参数与静态、动态特性;5)、全比例缩小和工艺偏差; * 第三章 器件 1)、简单回顾二极管的基本特性和静态特性; * 第三章 器件 * 第三章 器件 耗尽区电容 * 第三章 器件 耗尽区电容 * 第三章 器件 耗尽区平均电容 * 第三章 器件 二极管的二次效应 1、中性区电阻; 2、击穿; 3、热电阻效应; * 第三章 器件 MOS管的静态特性:速度饱和 * MOS管的静态特性:速度饱和 第三章 器件 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:速度饱和的手工分析 * 第三章 器件 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:亚阈值导电 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型2 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型2 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型2 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型2 * 第三章 器件 MOS管的静态特性:静态手工分析模型2 * 第三章 器件 动态特性:电容特性 * 第三章 器件 动态特性:电容分类:1)、结构电容(由基本的MOS结构组成,包括栅氧电容和覆盖电容);2)、沟道电容;由沟道电荷产生的电容;3)、结电容:由反向偏置的源-体和漏-体之间的PN结产生的非线性电容。 * 第三章 器件 动态特性:电容分类:1)、结构电容(由基本的MOS结构组成,包括栅氧电容和覆盖电容); 覆盖电容: 栅氧电容: * 第三章 器件 动态特性:2)、沟道电容;由沟道电荷产生的电容; CGCS=0; CGCD=0; CGCB=WLCox; CGCS=WLCox/2, CGCD=WLCox/2, CGCB=0; CGCS=2/3WLCox, CGCD=0; CGCB=0; * 第三章 器件 动态特性:2)、沟道电容;由沟道电荷产生的电容; * 第三章 器件 动态特性:2)、沟道电容;由沟道电荷产生的电容; * 第三章 器件 动态特性:电路模拟器提取电容: * 第三章 器件 3)、结电容:由反向偏置的源-体和漏-体之间的PN结产生的非线性电容。 * 第三章 器件 动态特性:源-漏电阻: *
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